[实用新型]一种自相关仪

权利要求书

1.一种自相关仪，用于测量超短激光脉冲宽度，其特征在于，包括：

用于等高平直入射的被测激光(17)通过以形成入射光路(10)的入射参考小孔(23)；

楔形分光镜(20)，位于所述入射光路(10)上，所述楔形分光镜(20)与入射光路(10)的夹角为45°；

第一直角反射镜(21)，包括第一平面反射镜(211)和第二平面反射镜(212)；所述第一平面反射镜(211)位于所述入射光路(10)经所述楔形分光镜(20)反射后形成的第三光路(13)上，所述第三光路(13)与第一平面反射镜(211)的夹角为45°；所述第二平面反射镜(212)与第一平面反射镜(211)垂直以将所述第三光路(13)原方向返回形成第四光路(14)；

第二直角反射镜(22)，包括第三平面反射镜(221)和第四平面反射镜(222)；所述第三平面反射镜(221)位于所述入射光路(10)经所述楔形分光镜(20)透射后形成的第一光路(11)上，所述第一光路(11)与第三平面反射镜(221)的夹角为45°；所述第四平面反射镜(222)与第三平面反射镜(221)垂直以将所述第一光路(11)原方向返回形成第二光路(12)；所述第二直角反射镜(22)设于可平行于所述第一光路(11)周期往复运动的扫描装置平台(31)上；

抛物面镜(25)，位于所述第二光路(12)经所述楔形分光镜(20)反射后形成的光路上；

探测器(40)，位于所述出射光路(16)经所述抛物面镜(25)聚光后的光路上以采集所述出射光路(16)聚焦后的光信号并将采集到的光信号转换成电信号；

控制装置(41)，分别与所述探测器(40)和扫描装置平台(31)电连接以采集所述探测器(40)生成的电信号并控制所述扫描装置平台(31)的周期往复运动。

2.如权利要求1所述的自相关仪，其特征在于，还包括位于所述第二光路(12)经所述楔形分光镜(20)透射形成的光路上的光路校准窗口(24)，所述光路校准窗口(24)包括一个用于对所述自相关仪进行校准的检测点，所述第一直角反射镜(21)设置于一可平行于所述第三光路(13)和第一光路(11)移动的二维精密平移台(30)上。

3.如权利要求2所述的自相关仪，其特征在于，所述检测点是一个十字叉丝的中心点。

4.如权利要求1所述的自相关仪，其特征在于，所述楔形分光镜(20)包括透射面(201)和反射面(202)，所述透射面(201)镀有增透膜，所述反射面(202)镀有反射膜。

5.如权利要求4所述的自相关仪，其特征在于，所述反射膜是光线45°入射时反射透射光强比为1∶1的宽波段膜系。

6.如权利要求1所述的自相关仪，其特征在于，所述楔形分光镜(20)的楔角的范围是0.3°～0.8°。

7.如权利要求6所述的自相关仪，其特征在于，所述楔形分光镜(20)的楔角是0.5°。

8.如权利要求1所述的自相关仪，其特征在于，所述探测器(40)位于所述抛物面镜(25)的焦点处。

9.如权利要求1所述的自相关仪，其特征在于，所述抛物面镜(25)是凹面镜或凸透镜。

10.如权利要求1所述的自相关仪，其特征在于，所述探测器(40)为双光子探测器。