[实用新型]一种精密短边角度测量工具

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测量技术领域，特别是一种精密短边角度测量工具。

背景技术

目前，一般角度的常用间接测量方法是：使用平台、正弦规、量块和测微表，或使用平台、量块、等径棒和测微表等的组合测量。但实际操作时比较费时,操作不便。角度的直接测量常用仪器测，如工具显微镜和投影仪测量角度；用圆分度器件及瞄准装置测角度；用双频激光干涉仪测量角度；用自准直式角度仪测角度；用万能测角仪测量角度（测量精度低，其游标分度值为2′或5′）。由于精密短边角的被测量长度短，在不足10mm的情况下，角度测量精度受测量长度的影响较大，当被测角度的公差只有0.05度时（换算为分是

3′），在6mm长度上允许的高低差只有0.005mm,在生产现场，要控制角度的误差必须及时知道角度的实际值，虽然使用工具显微镜测量角度等测量仪能得到角度的实际值，但花费的时间和成本较多，不适宜生产现场的测量,而且受仪器测量方式的影响，其测量精度还达不到要求。

实用新型内容

本实用新型的发明目的在于：针对上述存在的问题，提供一种精密短边角度测量工具。

本实用新型采用的技术方案是这样的：一种精密短边角度测量工具，包括测量基体，该测量基体在竖直方向上设置通孔并且左右两侧面均向右倾斜与竖直方向成一个锐角，所述通孔内设置固定杆，固定杆的一端伸出测量基体，且在末端套接一压板并用螺帽固定住。

作为优选方式，还包括角度校对块，该角度校对块在竖直方向上设置可以让固定杆伸入的孔，并且右侧面与竖直方向成一个锐角，与测量基体上的两相对侧面的锐角相同。

    作为优选方式，所述角度校对块上的孔相对于角度校对块右侧面的距离与固定杆相对于测量基体左侧面的距离相适应，即测量基体的左侧面朝下水平放置、角度校对块的右侧面朝下水平放置时，固定杆刚好可以插入角度校对块上的孔内。

综上所述，由于采用了上述技术方案，本实用新型的有益效果是：结构简单，使用方便，非常适合生产现场的使用，且能将工件的短边高度差控制在合格范围内，从而使短边的角度值符合要求；角度校对块的配合使用，更是提高了测量的精确性。

附图说明

图1是本实用新型的主视图。

图2是图1实施例的俯视图。

图3是本实用新型的使用状态图。

图4是与本实用新型配套使用的角度校对块的主视结构示意图。

图中标记：1为测量基体，2为固定杆，3为压板，4为螺母，5为被测工件，6为角度校对块，61为孔，7为测微表，8为测量平台。

具体实施方式

下面结合附图，对本实用新型作详细的说明。

如图1、图2所示，一种精密短边角度测量工具，包括测量基体1，该测量基体1在竖直方向上设置通孔并且左右两侧面均向右倾斜与竖直方向成一个锐角，所述通孔内设置固定杆2，固定杆2的一端伸出测量基体1，且在末端套接一压板3并用螺帽4固定住。

如图4所示，还包括角度校对块6，该角度校对块6在竖直方向上设置可以让固定杆2伸入的孔61，并且右侧面与竖直方向成一个锐角，与测量基体1上的两相对侧面的锐角相同。

所述角度校对块6上的孔61相对于角度校对块6右侧面的距离与固定杆2相对于测量基体1左侧面的距离相适应，即测量基体1的左侧面朝下水平放置、角度校对块6的右侧面朝下水平放置时，固定杆2刚好可以插入角度校对块6上的孔61内。

本实用新型的使用方法及原理：

如图3所示，将本实用新型与测量平台8和测微表7配合使用，先将角度校对块6校准测量基体1，然后换上被测工件5，在测量平台8上找平Y向，在X向用测微表7测量被测工件5在Z向上的差值。被测角α=90-A，其计算公式如下：sinα=δZ/X。当被测角α的公差为0.05度（即3′），X向的长度为6mm，δZ的值应在0.005mm以内。也就是说在X向用测微表7测量被测工件5的变化范围在6mm长度上在0.005mm以内。在现场加工时，操作人员只要对比角度校对块6的右侧面倾斜角度值和测微表7的读数，就可以知道被测工件5是否合格了，操作非常方便，节省了大量的操作时间的同时还保证了测量的精度。