[实用新型]一种光学元件反射率检测仪

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种光学元件检测仪，尤其是一种光学元件反射率检测仪。

背景技术

光谱测量在材料的分析测试和材料的特性研究中有重要应用。就光学加工而言，主要是利用各种光谱测量方法来对各类光学零件进行透过率和反射率的测量。但是，目前能直接测量球面光学元件反射率的仪器很少。球面光学元件由于光能利用率低、较微弱的反射光很难测量，因此亟需一种能够精确检测球面光学元件反射率的检测仪。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是：提供一种光学元件反射率的检测仪，该检测仪能够准确检测球面光学元件的反射率。

为了解决上述技术问题，本实用新型所采用的技术方案是：

一种光学元件反射率检测仪，包括一光源，将所述光源发出的光线变为平行光的第一聚光镜，与第一聚光镜透过光线成45°夹角设置有半透半反镜，该半透半反镜的上方平行设置有一分光镜，该分光镜的上方设置有一接收分光镜透过光线的电子目镜，所述半透半反镜的下方设置有一将该半透半反镜反射的光线聚焦的物镜，所述物镜下方的焦点处设有一三维样品调节台，其特征在于：还包括一将所述分光镜反射光线聚焦的第二聚光镜，接收透过所述第二聚光镜的光信号的光谱仪。

进一步作为优选的实施方式，所述光源为点光源。

进一步作为优选的实施方式，所述分光镜的反射率与透射率之比可调。

进一步作为优选的实施方式，所述分光镜反射率与透射率之比为7∶3。

本实用新型的有益效果是：本实用新型光学元件反射率检测仪，通过电子目镜和三维样品调节台的配合可以保证样品球面的垂直成像，通过分光镜与第二聚光镜的作用后，光谱仪将获取待测样品的不同光谱能量，然后根据获取的光谱能量数据与标准片的特定光谱能量数据比较，即可得到待测样品的绝对反射率，本检测仪不仅操作方便，而且能够准确检测球面光学元件的反射率。

附图说明

下面结合附图对本实用新型的具体实施方式作进一步说明：

图1是本实用新型光学元件反射率检测仪的结构示意图。

具体实施方式

参照图1,一种光学元件反射率检测仪，包括一光源1，将所述光源1发出的光线变为平行光的第一聚光镜2，与第一聚光镜2透过光线成45°夹角设置有半透半反镜5，该半透半反镜5的上方平行设置有一分光镜6，该分光镜6的上方设置有一接收分光镜6透过光线的电子目镜7，所述半透半反镜5的下方设置有一将该半透半反镜5反射的光线聚焦的物镜4，所述物镜4下方的焦点处设有一三维样品调节台3，还包括一将所述分光镜6反射光线聚焦的第二聚光镜8，接收透过所述第二聚光镜8的光信号的光谱仪9。

进一步作为优选的实施方式，所述光源1为点光源。

进一步作为优选的实施方式，所述分光镜6的反射率与透射率之比可调，优选的，所述分光镜6的反射率与透射率之比为7∶3。

本光学元件反射率检测仪的工作过程如下：

首先，将标准片放置在三维样品调节台3上，对标准片进行光谱能量测试。在测试时，通过电子目镜7观察并同时调节三维样品调节台3，当能看到清晰的圆形光斑即表明标准片球面与物镜4、半透半反镜5、分光镜6垂直成像。由于标准片的反射率已知，则可根据光谱仪9检测获取的光谱能量值得出反射率与光谱能量值的对应关系；

然后，将待测样品放置在三维样品调节台3上，操作同上所述，保证待测样品球面垂直成像，并通过光谱仪9检测获取光谱能量值，然后根据上步骤得出的反射率与光谱能量值的对应关系，即可计算出待测样品的绝对反射率。

以上是对本实用新型的较佳实施进行了具体说明，但本实用新型创造并不限于所述实施例，熟悉本领域的技术人员在不违背本实用新型精神的前提下还可以做出种种的等同变形或替换，这些等同的变形或替换均包含在本申请权利要求所限定的范围内。