[实用新型]一种半自动温度测试仪

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种半自动温度测试仪，主要涉及半导体致冷器件的半自动温度测试仪技术，是对现行普通温度测试仪的技术改进。

背景技术

随着半导体制冷技术的发展，半导体致冷器件温度测试仪技术也随之不断的升级换代。从最早的第一代，人们采用普通温度计对半导体致冷器件进行温度检测，但测量的精确度并不理想，且由于人为造成的安装和读数误差直接影响测量的可靠性。第二代产品从测量原理上对测量方法进行了改良，将机械式测量升级为机电结合式测量，测量方法的改进，直接促使了测量效率、测量精度以及测量灵敏度的提高。但随着生产测试要求的提高，第二代温度测试仪依然无法满足生产测试的需要。如今的生产测试需要在测试半导体致冷器件温度的过程中同时实现以下功能：

1、半导体致冷器件测试电压的准确控制。

2、半导体致冷器件检测时间的准确控制。

3、半导体致冷器件冷热面温度同时检测。

4、半导体致冷器件条码自动扫描、显示、保存。

5、半导体致冷器件冷热面温度数据自动转换、处理、显示、保存。

6、自动生成测试报表。

7、自动判别半导体致冷器件温度测试是否合格。

8、自动识别半导体致冷器件是否重复测试。

9、半导体致冷器件测试不合格或出错时要求自动报警。

10、四路半导体致冷器件自动切换测试。

随之我们需要研究第三代温度测试仪，利用现代传感器技术，结合计算机控制和通信手段，将传统的测量仪器改进为满足实际生产需要的机电、通信一体化相结合的现代化测量仪器。

发明内容

本实用新型要克服现有温度测试仪准确度差、自动化程度低的缺点，提供一种有效提高测试可靠性和效率的多功能半自动温度测试仪。

本实用新型采用的技术方案是：

半自动温度测试仪，包括机架、用于固定待测半导体致冷器件的转盘，其特征在于：所述的转盘连接电机，所述的电机依次将所述的转盘运转到安置待测半导体致冷器件的第一工位、进行条码扫描的第二工位、对待测半导体致冷器件测温的第三工位，所述的第二工位上方的机架上设置有扫描仪，所述的第三工位上方的机架上设置有温度传感器，所述的温度传感器通过夹具连接在一个汽缸上；所述的扫描仪和温度传感器连接计算机；所述的电机是伺服电机，所述的电机的控制端连接所述的计算机。

进一步，所述的温度传感器通过数据采集卡连接所述的计算机。

本实用新型的电源模块包括开关电源和直流稳压电源。

本实用新型半导体致冷器件温度测试仪的工作原理是：当它接通相应值的直流电源后，半导体致冷器件冷热面温度就会产生变化，冷面温度下降，热面温度上升，经过一定时间后，形成一个明显的基本稳定的温度差。自动准确的准时的测试半导体致冷器件在稳定时的冷热面温度，计算出冷热面温差，同时将温度数据处理后传送到计算机报表里。进一步扫描半导体致冷器件上的条码，同时将条码数据处理后传送到计算机报表里，进一步自动判断所测数据是否满足测试要求。

本实用新型的有益效果体现在：综合了半导体致冷器件生产测试的多种功能，和普通温度测试仪相比，减少了许多人工操作过程，通过此装置可以实现半导体致冷器件温度测试的半自动化，从而大大提高了半导体致冷器件温度测试的准确性和可靠性，大大提高了测试效率。

附图说明

图1是本实用新型温度测试仪整体结构示意图。

图2是本实用新型温度测试仪操作平台示意图。

图3是本实用新型温度测试仪结构装置示意图。

具体实施方式

参照图1、图2和图3，本实用新型的半自动温度测试仪，包括机架、用于固定待测半导体致冷器件6的转盘4，特点是所述的转盘4连接电机3，所述的电机3依次将所述的转盘4运转到安置待测半导体致冷器件6的第一工位7、进行条码扫描的第二工位8、对待测半导体致冷器件6测温的第三工位10，所述的第二工位8上方的机架上设置有扫描仪9，所述的第三工位10上方的机架上设置有温度传感器5，所述的温度传感器5通过夹具连接在一个汽缸11上；所述的扫描仪9和温度传感器5连接计算机1；所述的电机3是伺服电机，所述的电机3的控制端连接所述的计算机1。

进一步，所述的温度传感器5通过数据采集卡连接所述的计算机1。