[实用新型]低失调电流比较器有效
申请号: | 201120520566.9 | 申请日: | 2011-12-13 |
公开(公告)号: | CN202435270U | 公开(公告)日: | 2012-09-12 |
发明(设计)人: | 朱波;王国瑞 | 申请(专利权)人: | 无锡新硅微电子有限公司 |
主分类号: | H02M3/156 | 分类号: | H02M3/156 |
代理公司: | 无锡市大为专利商标事务所 32104 | 代理人: | 曹祖良 |
地址: | 214028 江苏省无锡*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 失调 电流 比较 | ||
1.一种低失调电流比较器,包括第一三极管(Q1)及第二三极管(Q2),所述第一三极管(Q1)的基极端与第二三极管(Q2)的基极端相连;第一三极管(Q1)的发射极与第一电阻(R1)相连,第二三极管(Q2)的发射极通过第二电阻(R2)接地;其特征是:所述第一三极管(Q1)及第二三极管(Q2)的基极端均与第三三极管(Q3)的发射极相连;第一三极管(Q1)的集电极及第三三极管(Q3)的基极端均与第五MOS管(M5)的漏极端相互连接,第三三极管(Q3)的集电极分别与第四MOS管(M4)、第五MOS管(M5)、第六MOS管(M6)及第七MOS管(M7)的源极端相连,且第四MOS管(M4)、第五MOS管(M5)、第六MOS管(M6)及第七MOS管(M7)的源极端相互连连接;第六MOS管(M6)的漏极端与第二三极管(Q2)的集电极相连,第六MOS管(M6)的栅极端与第七MOS管(M7)的栅极端相连,且第六MOS管(M6)的栅极端与第六MOS管(M6)的漏极端相连;第七MOS管(M7)的漏极端与第三MOS管(M3)的漏极端相连,所述第三MOS管(M3)的源极端与第二MOS管(M2)的源极端及第一MOS管(M1)的源极端相互连接并接地;第三MOS管(M3)的栅极端与第二MOS管(M2)及第一MOS管(M1)的栅极端相互连接,第一MOS管(M1)的栅极端与第一MOS管(M1)的漏极端相连;第二MOS管(M2)的漏极端与第四MOS管(M4)的漏极端相连,第四MOS管(M4)的栅极端与所述第四MOS管(M4)的漏极端相连。
2.根据权利要求1所述的低失调电流比较器,其特征是: 所述第六MOS管(M6)的漏极端与第二三极管(Q2)的集电极间还设有第八MOS管(M8),所述第八MOS管(M8)的源极端与第二三极管(Q2)的集电极相连,第八MOS管(M8)的漏极端与第六MOS(M6)的漏极端相连,第八MOS管(M8)的栅极端与第三三极管(Q3)的基极端相连。
3.根据权利要求1所述的低失调电流比较器,其特征是:所述第一三极管(Q1)及第二三极管(Q2)为完全相同的NPN管。
4.根据权利要求1所述的低失调电流比较器,其特征是:所述第二MOS管(M2)与第三MOS管(M3)均为NMOS管,第二MOS管(M2)与第三MOS管(M3)形成第一镜像源,且第二MOS管(M2)与第三MOS管(M3)对应导电沟道的宽长比相同。
5.根据权利要求1所述的低失调电流比较器,其特征是:所述第四MOS管(M4)及第五MOS管(M5)均为PMOS管,第四MOS管(M4)及第五MOS管(M5)形成第二镜像源,且第四MOS管(M4)及第五MOS管(M5)对应导电沟道的宽长比相同。
6.根据权利要求1所述的低失调电流比较器,其特征是:所述第六MOS管(M6)与第七MOS管(M7)均为PMOS管,第六MOS管(M6)及第七MOS管(M7)形成第三镜像源,且第六MOS管(M6)及第七MOS管(M7)对应导电沟道的宽长比相同。
7.根据权利要求1所述的低失调电流比较器,其特征是:所述第一MOS管(M1)的漏极端与偏置电流源Idc相连;第四MOS管(M4)的源极端、第五MOS管(M5)的源极端、第六MOS管(M6)的源极端、第七MOS管(M7)的源极端及第三三极管(Q3)的集电极均与电源VDD相连。
8.根据权利要求1所述的低失调电流比较器,其特征是:所述第一电阻(R1)对应于与第一三极管(Q1)发射极相连的另一端与节点SW相连。
9.根据权利要求1所述的低失调电流比较器,其特征是:所述第三三极管(Q3)为NPN管。
10.根据权利要求1所述的低失调电流比较器,其特征是:所述第八MOS管(M8)为NMOS管,且第八MOS管(M8)的阈值电压为-0.2V~0.2V。
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