[实用新型]半导体发光器件的发光效率检测系统有效
申请号: | 201120522917.X | 申请日: | 2011-12-14 |
公开(公告)号: | CN202339395U | 公开(公告)日: | 2012-07-18 |
发明(设计)人: | 杨新华;李浩;张昊明;张健;曹曙光;李季;徐民;张博;张轶鹏;鲁志军;刘缨;刘岩;项庆林 | 申请(专利权)人: | 黑龙江省计量科学研究院 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01M11/00 |
代理公司: | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人: | 牟永林 |
地址: | 150036 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 发光 器件 效率 检测 系统 | ||
1.一种半导体发光器件的发光效率检测系统,它包括积分球(1),其特征在于:它还包括标准功率源(2)、结电压测量模块(3)、光通量测量模块(4)、单片机(5)和光电传感器(6),
待测半导体发光器件置于积分球(1)内,该半导体发光器件串联在标准功率源(2)的两个电流输出端之间,标准功率源(2)的控制信号输入端连接单片机(5)的控制信号输出端,
待测半导体发光器件的阴极和阳极分别连接结电压测量模块(3)的两个电压信号输入端,结电压测量模块(3)的电压信号输出端连接单片机(5)的电压信号输入端,
光电传感器(6)用于接收待测半导体发光器件的光通量信号,光电传感器(6)的光通量信号输出端连接光通量测量模块(4)的光通量信号输入端,光通量测量模块(4)的光通量信号输出端连接单片机(5)的光通量信号输入端。
2.根据权利要1所述的半导体发光器件的发光效率检测系统,其特征在于:它还包括显示单元(7),显示单元(7)的显示信号输入端连接单片机(5)的显示信号输出端。
3.根据权利要1或2所述的半导体发光器件的发光效率检测系统,其特征在于:它还包括键盘(8),键盘(8)的预置信号输出端连接单片机(5)的预置信号输入端。
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