[实用新型]测试程序优化的内存IC检测分类机

权利要求书

1.测试程序优化的内存IC检测分类机，其特征在于，它包含：至少一个JEDEC托盘装上料传送模组，上料机械手，第一缓冲和预定位模组，抓取机械手，内存IC测试模组，第二缓冲和预定位模组，下料机械手，至少一个JEDEC托盘装下料传送模组，和与内存IC测试模组相连的内存IC测试系统，其中，内存IC测试模组是由多个IC测试模块阵列而形成，且按照包含相同数量IC测试模块的区域划分成多个相同的区域，内存测试系统通过电信号切换与这些相同区域的IC测试模块相连接。

2.根据权利要求1所述的测试程序优化的内存IC检测分类机，其特征在于：第一缓冲和预定位模组、第二缓冲和预定位模组分别位于内存IC测试模组之前与之后，分别与上料传送模组和下料传送模组相衔接，并且，第一缓冲和预定位模组、第二缓冲和预定位模组可沿直线移动，且直线上分布着多个点位分别对应于不同划分区域。

3.根据权利要求1所述的测试程序优化的内存IC检测分类机，其特征在于：上料机械手、下料机械手和抓取机械手的端部均安装有真空吸嘴，沿水平方向和竖直方向的移动轴移动对所划分成多个相同区域内的内存IC进行取放和测试。