[实用新型]一种平面镜反射系数的测量装置有效

专利信息
申请号: 201120535426.9 申请日: 2011-12-20
公开(公告)号: CN202735064U 公开(公告)日: 2013-02-13
发明(设计)人: 蒋鑫巍;张永安 申请(专利权)人: 昆明理工大学
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 650093 云*** 国省代码: 云南;53
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摘要:
搜索关键词: 一种 平面镜 反射 系数 测量 装置
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种光学检测装置,特别是一种平面镜反射系数的测量装置,属于光学技术领域。 

背景技术

平面反射镜在日常生活中有着广泛的使用,同时在光学实验中也是非常重要的光学仪器之一。在精密的光学实验中,平面镜的反射系数可能直接关系到实验最终结果。因此,测量平面镜的反射系数就显得尤为必要。目前,在测量平面镜的反射系数时,主要有绝对测量法和相对测量法两种,其中绝对测量法是相对测量法的基础,为相对测量法提供数据对比,因此绝对测量法中各种测试单元要求都非常严格,设备比较复杂,操作不便。 

发明内容

本实用新型提供了一种平面镜反射系数的测量装置,利用简单的光路结构,可以精确,方便,有效的测量平面镜的反射系数。 

本实用新型的采用的技术方案:平面镜反射系数的测量装置包括激光器1、支架2、载物台3、待测平面镜4、光功率测试仪Ⅰ5和光功率测试仪Ⅱ6;将待测平面镜4水平固定在载物台3上,激光器1固定在支架2上,固定位置与待测平面镜4不垂直,光功率测试仪Ⅰ5固定在入射光的光路上、光功率测试仪Ⅱ6固定在反射光的光路上。 

所述的光功率测试仪Ⅰ5和光功率测试仪Ⅱ6固定时要与分别与所测光路垂直。 

所述的光功率测试仪Ⅰ5和光功率测试仪Ⅱ6为相同结构元件,激光器1、支架2、载物台3、待测平面镜4、光功率测试仪Ⅰ5和光功率测试仪Ⅱ6都是市售的普通元件。 

本实用新型优点及效果:可以准确测出平面反射镜的反射系数,同时测量精度高,使用方便,结构简单。 

附图说明

图1为本实用新型结构示意图; 

图中:1-激光器、2-支架、3-载物台、4-待测平面镜、5-光功率测试仪Ⅰ、6-光功率测试仪Ⅱ。 

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。 

如图1所示:平面镜反射系数的测量装置包括激光器1、支架2、载物台3、待测平面镜4、光功率测试仪Ⅰ5和光功率测试仪Ⅱ6;将待测平面镜4水平固定在载物台3上,激光器1固定在支架2上,固定位置与待测平面镜4不垂直,光功率测试仪Ⅰ5固定在入射光的光路上、光功率测试仪Ⅱ6固定在反射光的光路上;光功率测试仪Ⅰ5和光功率测试仪Ⅱ6固定时要与分别与所测光路垂直。 

本实用新型装配好以后,打开激光器1,是入射光线通过光功率测试仪Ⅰ5,利用光功率测试仪Ⅰ5测量入射光的光强A1,然后把光功率测试仪Ⅰ5移开,使入射光射向待测平面镜4,在待测平面镜4发生反射以后,反射光通过光功率测试仪Ⅱ6,利用光功率测试仪Ⅱ6测量反射光的光强A2,根据光功率数据A1和A2,通过计算得到平面镜的反射系数A2/A1。 

本实用新型是通过具体实施过程进行说明的,在不脱离本实用新型范围的情况下,还可以对实用新型进行各种变换及等同代替,因此,本实用新型不局限于所公开的具体实施过程,而应当包括落入本实用新型权利要求范围内的全部实施方案。 

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