[实用新型]一种双光束地基沉降检测装置有效

专利信息
申请号: 201120535484.1 申请日: 2011-12-20
公开(公告)号: CN202547640U 公开(公告)日: 2012-11-21
发明(设计)人: 马琨;吴加权;李红艳 申请(专利权)人: 昆明理工大学
主分类号: G01C5/00 分类号: G01C5/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 650093 云*** 国省代码: 云南;53
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摘要:
搜索关键词: 一种 光束 地基 沉降 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种双光束地基沉降检测装置,其特征在于:装置包括激光器、光学准直系统、分束镜、结构相同的光电测尺接收装置Ⅰ和光电测尺接收装置Ⅱ;分束镜为半反半透镜;在待测点之外无沉降区域内0~60米范围内固定好激光器,光学准直系统和分束镜,激光器与光学准直系统连接为一体,分束镜置于光学准直系统前激光束行进路途中,光电测尺接收装置Ⅰ固定于待测点,光电测尺接收装置Ⅱ固定于观测点以外无沉降的一个静止参考点上。

2.根据权利要求1所述的双光束地基沉降检测装置,其特征在于:参考点的位置到分束镜的距离与待测点到分束镜的距离相等,并满足分束镜的位置和安装角度经调整后出射的两束光线与原光束等高且两束光线相互垂直地被光电测尺接收装置Ⅰ和光电测尺接收装置Ⅱ接收。

3.根据权利要求1所述的双光束地基沉降检测装置,其特征在于:光电测尺接收装置Ⅰ和光电测尺接收装置Ⅱ的尺身垂直于水平面安装,安装角度应让激光束垂直射入硅光电池遮光筒,并保证两个光电测尺接收装置的游标卡尺尺面与激光束基准线垂直。

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