[实用新型]一种三轴微型陀螺仪的测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种用于检测传感器的检测精准度是否达到要求的测试装置，尤其涉及一种三轴微型陀螺仪的测试装置。 

背景技术

随着微机电系统(MEMS，Micro-Electro-Mechanical System)技术的发展，很多基于MEMS技术的微型陀螺仪已经面世，并且在汽车、导航、游戏等领域中得到广泛的应用。但对于微型陀螺仪来说，在器件的研制、封装以及其他相关的加工制作过程中，难免会对器件的性能产生不利的影响；此外，器件经过一段时间的使用后，由于材料老化、温度、湿度等不同环境条件等原因导致其性能必然会产生一定漂移，经过一定时间的累积后所造成的误差会相当的大，因此，无论是对刚刚出厂的成品还是对于正在使用中的产品，都需要一个稳定而高效的测试平台，对产品的性能进行标定和校正。 

在对陀螺仪的性能进行标定和校正的设备中，最简单的设备是单轴转台，只需用一个马达和相应的基台等测试设备就可以完成对器件性能的测试，但是，对于三轴陀螺仪来说，要完成各个轴向的性能测试，需要改变器件的轴向才能进行另外一个轴向的性能测量，显然，对于三轴微型陀螺仪的测量来说，改变测试轴向增加了设备的复杂度和成本。 

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种不需要改变测试轴向即可完成三轴微型陀螺仪在三个轴向上的测试的测试装置。 

本实用新型采用的技术方案为：一种三轴微型陀螺仪的测试装置，包括测试组件和带动测试组件转动的驱动件，所述驱动件的转轴与测试组件的用于安装待测试三轴微型陀螺仪的测试平面间的夹角为α，所述α大于0度小于90度。 

其中，所述测试组件包括测试架和提供所述测试平面的测试主板，所述驱动件带动 测试架转动；所述测试架的与驱动件的转轴连接的转轴连接平面与转轴垂直，所述测试架的与测试主板连接的主板连接平面与转轴连接平面相对，且与测试主板的测试平面平行。 

其中，所述测试架的转轴连接平面通过一法兰盘与驱动件的转轴连接，所述转轴连接平面和驱动件的转轴在法兰盘的两侧与法兰盘相贴合。 

其中，所述测试架的主板连接平面通过一测试背板与测试主板连接，其中，主板连接平面、测试背板和测试主板彼此平行，测试主板和主板连接平面在测试背板的两侧与测试背面相贴合。 

其中，所述测试主板上安装一角度传感器，所述角度传感器的轴向与测试平面的方向平行。 

本实用新型的有益效果为：采用本实用新型的测试装置无需改变测试轴向即可完成三轴微型陀螺仪在三个轴向上的测试，设备实现简单，不仅减少了测试时间，也降低了测试装置的成本。 

附图说明

图1示出了根据本实用新型的三轴微型陀螺仪的测试装置的一种实施方式的结构示意图； 

图2示出了驱动件的转轴与三轴微型陀螺仪的三个轴之间的位置关系。 

具体实施方式

本实用新型的三轴微型陀螺仪的测试装置包括测试组件和带动测试组件转动的例如是马达的驱动件，如图1所示，该马达1的转轴11与测试组件的用于安装待测试三轴微型陀螺仪的测试平面51间的夹角为α，所述α大于0度小于90度。 

作为测试组件的一种实施结构，如图1所示，该测试组件可包括测试架3和提供上述测试平面51的测试主板5，马达1带动测试架3转动；测试架3的与马达1的转轴11连接的转轴连接平面31与转轴11垂直，测试架3的与测试主板5连接的主板连接平面 32与转轴连接平面31相对，且与测试主板5的测试平面51平行。该测试架3作为测试主板5与马达1之间的中间连接件，主要可以防止测试主板5与马达1之间发生运动干涉，影响上述夹角α的精确度。 

若在组装测试装置时增加辅助连接件，可以提高转轴11与测试平面51间所呈夹角的精确度，在此，该测试架3的转轴连接平面31可通过一法兰盘2与转轴11连接，转轴连接平面31和转轴11在法兰盘2的两侧与法兰盘相贴合。另外，该测试架3的主板连接平面32可通过一测试背板4与测试主板5连接，其中，主板连接平面32、测试背板4和测试主板5彼此平行，测试主板5和主板连接平面32在测试背板4的两侧与测试背面4相贴合，其中，测试主板的测试平面51与测试主板的和测试背板相贴合的平面平行。 

在进行测试时，本实用新型的测试装置一般使马达1的转轴11沿水平方向设置，测试装置的各部件的用于相互连接的安装轴心同样沿水平方向设置，而使测试平面与水平面间的夹角为上述α。