[实用新型]在位式气体测量装置有效
申请号: | 201120577651.9 | 申请日: | 2011-12-31 |
公开(公告)号: | CN202404021U | 公开(公告)日: | 2012-08-29 |
发明(设计)人: | 俞大海;陈立波;张飞;马海波 | 申请(专利权)人: | 聚光科技(杭州)股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/35 | 分类号: | G01N21/35 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 310052 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 在位 气体 测量 装置 | ||
1.一种在位式气体测量装置,包括光源、探测器、窗口片、分析单元以及吹扫单元;其特征在于:所述测量装置进一步包括:
气体接口,所述气体接口设置在所述吹扫单元提供的第一气体排入管道处,用于使第二气体通过该接口并沿着所述管道内过程气体的流向排入所述管道,从而形成隔断所述第一气体和过程气体的气体墙;
气体提供单元,所述气体提供单元用于提供所述第二气体;
气体通道,所述气体通道连通所述气体提供单元和所述接口。
2.根据权利要求1所述的气体测量装置,其特征在于:所述测量装置进一步包括用于通过测量光束和第一气体的内管,所述接口设置在所述内管深入到管道的端部。
3.根据权利要求2所述的气体测量装置,其特征在于:所述气体通道设置在所述内管的外部。
4.根据权利要求1所述的气体测量装置,其特征在于:所述接口的宽度处于[0.1mm,1.0mm]。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于聚光科技(杭州)股份有限公司,未经聚光科技(杭州)股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201120577651.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种用光纤位移传感器测量金属线膨胀系数的装置
- 下一篇:压流式粘度计