[发明专利]电源模块及其封装集成方法无效

专利信息
申请号: 201180000413.4 申请日: 2011-04-29
公开(公告)号: CN102171825A 公开(公告)日: 2011-08-31
发明(设计)人: 毛恒春;陈锴;段志华;周涛 申请(专利权)人: 华为技术有限公司
主分类号: H01L25/16 分类号: H01L25/16;H01L21/50;H01L21/60
代理公司: 深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙) 44285 代理人: 彭愿洁;李文红
地址: 518129 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 电源模块 及其 封装 集成 方法
【权利要求书】:

1.一种电源模块,包括:引线框架、无源器件、集成电路IC和功率开关金属氧化物半导体场效应晶体管MOSFET,其特征在于:所述无源器件通过表面贴装技术焊接在所述引线框架上;所述IC为倒装芯片,贴装并焊接在所述引线框架上。

2.如权利要求1所述的电源模块,所述无源器件包括输入电容、输出电容和功率电感。

3.如权利要求2所述的电源模块,所述IC是所述MOSFET的驱动芯片。

4.如权利要求1至3任一项所述的电源模块,其特征在于,所述MOSFET与所述IC集成在一个倒装芯片上。

5.如权利要求4所述的电源模块,其特征在于,还包括:设置在所述倒装芯片背面的金属片,用于散热并降低电气噪声。

6.如权利要求5述的电源模块,其特征在于,

所述金属片焊接在所述倒装芯片背面;或者

所述金属片通过高导热胶粘接在所述倒装芯片背面。

7.如权利要求5所述的电源模块,其特征在于,所述金属片具有弯折边,所述弯折边与引线框架电连接。

8.如权利要求1至3任一项所述的电源模块,其特征在于,所述MOSFET为两个独立的MOSFET芯片,分别焊接在所述引线框架上。

9.如权利要求8所述的电源模块,其特征在于,

所述两个独立的MOSFET芯片中任意一个是平面结构的倒装MOSFET芯片;

或者,所述两个独立的MOSFET芯片中任意一个是垂直结构的倒装MOSFET芯片,并且所述垂直结构的倒装MOSFET芯片上贴装有一个金属片,所述金属片用于实现该MOSFET芯片上的电极与引线框架的电连接;

或者,所述两个独立的MOSFET芯片中任意一个是垂直结构的正装MOSFET芯片,并且所述垂直结构的正装MOSFET芯片上贴装有两个金属片,所述金属片用于实现该MOSFET芯片上的电极与引线框架的电连接;

或者,所述两个独立的MOSFET芯片中任意一个是平面结构的正装MOSFET芯片,并且所述平面结构的正装MOSFET芯片上贴装有三个金属片,所述金属片用于实现该MOSFET芯片上的电极与引线框架的电连接。

10.如权利要求1至3任一项所述的电源模块,其特征在于,所述MOSFET为两个独立的倒装MOSFET芯片,两个MOSFET芯片和两个金属片交替堆叠贴装,所述两个金属片用于实现所述MOSFET芯片与引线框架的电连接、和/或两个MOSFET芯片之间的电连接。

11.如权利要求5、9或10所述的电源模块,其特征在于,所述金属片为铜片或铝片。

12.一种电源模块封装集成方法,其特征在于,包括:

将无源器件通过表面贴装技术焊接到引线框架上;

将集成了功率开关金属氧化物半导体场效应晶体管MOSFET和集成电路IC的倒装芯片利用芯片倒装技术贴装并焊接到所述引线框架上,形成一个电源模块;

对所述电源模块进行塑封;

塑封完成后,将所述电源模块进行分离。

13.一种电源模块封装集成方法,其特征在于,包括:

将无源器件通过表面贴装技术焊接到引线框架上;

将两片功率开关金属氧化物半导体场效应晶体管MOSFET芯片分别焊接到所述引线框架上;

将倒装芯片形式的集成电路IC芯片利用芯片倒装技术贴装并焊接到所述引线框架上,形成一个电源模块;

对所述电源模块进行塑封;

塑封完成后,将所述电源模块进行分离。

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