[发明专利]设备标识信息的获取方法及装置

权利要求书

1.一种设备标识信息的获取方法，其特征在于，包括：

利用第一通用输入输出GPIO端口，检测电容通过所述待测电阻进行放电的第一放电时间，所述第一GPIO端口通过定值电阻与所述电容连接；

利用第二GPIO端口，检测所述电容通过所述定值电阻进行放电的第二放电时间，所述第二GPIO端口通过待测电阻与所述电容连接；

根据所述第一放电时间、所述第二放电时间和所述定值电阻的电阻值，获得所述待测电阻的电阻值；

根据待测电阻的电阻值与设备标识信息的对应关系，获取与所述待测电阻的电阻值对应的设备标识信息。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

在检测放电时间前通过所述第一GPIO端口或所述第二GPIO端口给电容充电。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述通过所述第一GPIO端口或所述第二GPIO端口给电容充电，包括：

将所述第一GPIO端口或所述第二GPIO端口设置为输出高电平状态，用以通过所述第一GPIO端口或所述第二GPIO端口给所述电容充电。

4.根据权利要求1至3任一权利要求所述的方法，其特征在于，所述利用第一GPIO端口，检测电容通过所述待测电阻进行放电的第一放电时间，包括：

将所述第一GPIO端口设置为输入状态，用以对所述电容的电平进行检测；

将所述第二GPIO端口设置为输出低电平状态，以使所述电容通过所述待测电阻进行放电；

将所述第一GPIO端口检测到的所述电容的电平从高电平到低电平的时间，作为所述第一放电时间。

5.根据权利要求1至3任一权利要求所述的方法，其特征在于，所述利用第二GPIO端口，检测所述电容通过所述定值电阻进行放电的第二放电时间，包括：

将所述第二GPIO端口设置为输入状态，用以对所述电容的电平进行检测；

将所述第一GPIO端口设置为输出低电平状态，以使所述电容通过所述定值电阻进行放电；

将所述第二GPIO端口检测到的所述电容的电平从高电平到低电平的时间，作为所述第二放电时间。

6.根据权利要求1至3任一权利要求所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一放电时间、所述第二放电时间和所述定值电阻的电阻值，获得所述待测电阻的电阻值，包括：

根据R1＝R2T1/T2，计算R1的阻值；

其中，所述R1为所述待测电阻；所述R2为所述定值电阻；所述T1为所述第一放电时间；所述T2为所述第二放电时间。

7.一种设备标识信息的获取装置，其特征在于，包括：

第一检测单元，用于利用第一通用输入输出GPIO端口，检测电容通过所述待测电阻进行放电的第一放电时间，所述第一GPIO端口通过定值电阻与所述电容连接；

第二检测单元，用于利用第二GPIO端口，检测所述电容通过所述定值电阻进行放电的第二放电时间，所述第二GPIO端口通过待测电阻与所述电容连接；

阻值获得单元，用于根据所述第一放电时间、所述第二放电时间和所述定值电阻的电阻值，获得所述待测电阻的电阻值；

信息获取单元，用于根据待测电阻的电阻值与设备标识信息的对应关系，获取与所述待测电阻的电阻值对应的设备标识信息。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述装置还包括电容充电单元，用于通过所述第一GPIO端口或所述第二GPIO端口给电容充电。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述电容充电单元具体用于

将所述第一GPIO端口或所述第二GPIO端口设置为输出高电平状态，用以通过所述第一GPIO端口或所述第二GPIO端口给所述电容充电。

10.根据权利要求7至9任一权利要求所述的装置，其特征在于，所述第一检测单元具体用于

将所述第一GPIO端口设置为输入状态，用以对所述电容的电平进行检测，将所述第二GPIO端口设置为输出低电平状态，以使所述电容通过所述待测电阻进行放电，将所述第一GPIO端口检测到的所述电容的电平从高电平到低电平的时间，作为所述第一放电时间。