[发明专利]一种干扰测量方法和装置有效
| 申请号： | 201180001432.9 | 申请日： | 2011-08-10 |
| 公开（公告）号： | CN102326345A | 公开（公告）日： | 2012-01-18 |
| 发明（设计）人： | 朱拓;金义星;罗青全;马颖茂;贾婧;韩燕;白文保;刘晶;上官声长;陈颖悟 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/00 | 分类号： | H04B17/00;H04B1/715 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人： | 申健 |
| 地址： | 518129 中国广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 干扰 测量方法 装置 | ||
1.一种干扰测量方法，其特征在于，在广播控制信道BCCH载频与至少一个辅载频循环跳频的情况下，包括：
调整监听频点，以监听目标辅载频；所述目标辅载频为所述至少一个辅载频中的一个；
在至少两个干扰采样点测量所述目标辅载频上的电平值；
获取测量到的电平值中最小的一个作为干扰测量值。
2.根据权利要求1所述的干扰测量方法，其特征在于，还包括：获取所述干扰测量值对应的干扰等级，并将所述干扰等级上报网侧设备。
3.根据权利要求1所述的干扰测量方法，其特征在于，所述至少两个干扰采样点分布在至少一个52复帧中。
4.根据权利要求1～3任一项权利要求所述的干扰测量方法，其特征在于，每个所述干扰采样点为分组定时控制PTCCH帧或空闲Idle帧。
5.根据权利要求4所述的干扰测量方法，其特征在于，所述在至少两个干扰采样点测量所述目标辅载频上的电平值包括：
在两个最接近的干扰采样点测量所述目标辅载频上的电平值。
6.根据权利要求5所述的干扰测量方法，其特征在于，所述两个最接近的干扰采样点包括：
两个最接近的PTCCH帧，或者
两个最接近的Idle帧，或者
一个PTCCH帧和一个与该PTCCH帧最接近的Idle帧。
7.一种干扰测量装置，其特质在于，包括：
调频单元，用于调整监听频点，以监听目标辅载频；所述目标辅载频为所述至少一个辅载频中的一个；
测量单元，用于在至少两个干扰采样点测量所述目标辅载频上的电平值；
获取单元，用于获取测量到的电平值中最小的一个作为干扰测量值。
8.根据权利要求7所述的干扰测量装置，其特征在于，还包括：
上报单元，用于获取所述干扰测量值对应的干扰等级，并将所述干扰等级上报网侧设备。
9.根据权利要求7所述的干扰测量装置，其特征在于，所述测量单元中的所述至少两个干扰采样点分布在至少一个52复帧中。
10.根据权利要求7～9任一项权利要求所述的干扰测量装置，其特征在于，每个所述干扰采样点为分组定时控制PTCCH帧或空闲Idle帧。
11.根据权利要求10所述的干扰测量装置，其特征在于，所述测量单元具体用于在两个最接近的干扰采样点测量所述目标辅载频上的电平值。
12.根据权利要求11所述的干扰测量装置，其特征在于，所述两个最接近的干扰采样点包括：
两个最接近的PTCCH帧，或者
两个最接近的Idle帧，或者
一个PTCCH帧和一个与该PTCCH帧最接近的Idle帧。
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