[发明专利]磁共振成像装置及磁共振成像方法有效

专利信息
申请号: 201180001735.0 申请日: 2011-08-02
公开(公告)号: CN102438518A 公开(公告)日: 2012-05-02
发明(设计)人: 草原博志;葛西由守;待井丰 申请(专利权)人: 株式会社东芝;东芝医疗系统株式会社
主分类号: A61B5/055 分类号: A61B5/055;G01R33/54
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 吕林红
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 磁共振 成像 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种磁共振成像装置,所述磁共振成像装置能够执行EPI,即平面回波成像,所述EPI向静磁场内的受检体发射用于引发核磁共振的激励脉冲,对反复进行读取方向梯度磁场的极性翻转所产生的多个回波信号进行采集,基于多个所述回波信号重建所述受检体的图像数据,其特征在于,具有:

第1采集部,该第1采集部通过执行所述EPI的回波信号采集序列,从而将所产生的多个所述回波信号作为第1模板数据进行采集,该第1采集部所执行的所述EPI的回波信号采集序列包含相位编码方向梯度磁场的施加;

第2采集部,该第2采集部在所述第1模板数据的采集后通过执行所述EPI的回波信号采集序列,从而将所产生的多个所述回波信号作为第2模板数据进行采集,该第2采集部所执行的所述EPI的回波信号采集序列包含所述相位编码方向梯度磁场的施加,并且所述读取方向梯度磁场的施加开始时刻与所述第1模板数据的采集时相错开;以及

校正部,该校正部用所述第1及第2模板数据,至少进行包含在所述回波信号中的相位误差的校正。

2.如权利要求1所记载的磁共振成像装置,其特征在于:

所述校正部用所述第1及第2模板数据,进行所述相位误差的校正及用于使所述静磁场均匀化的磁场校正的双方。

3.如权利要求2所记载的磁共振成像装置,其特征在于:

还具有摄像数据采集部,该摄像数据采集部在所述第1及第2模板数据的采集后,通过执行所述EPI的回波信号序列,来采集来自所述受检体的多个所述回波信号;

所述校正部在由所述摄像数据采集部进行的多个所述回波信号的采集之前进行所述磁场校正,并且,在从由所述摄像数据采集部采集的多个所述回波信号重建所述图像数据时进行所述相位误差的校正。

4.如权利要求3所记载的磁共振成像装置,其特征在于:

所述第1及所述第2采集部针对与成为所述摄像数据采集部进行的多个所述回波信号的采集对象的摄像区域相同的区域,分别执行所述EPI的回波信号采集序列,籍此从所述相同的区域采集所述第1及第2模板数据。

5.如权利要求4所记载的磁共振成像装置,其特征在于:

所述第2采集部使所述读取方向梯度磁场的施加开始时刻与所述第1模板数据的采集时错开时间差,该时间差为从所述读取方向梯度磁场的极性翻转开始到再次翻转为止的时间差的自然数倍。

6.如权利要求4所记载的磁共振成像装置,其特征在于:

所述第2采集部,以使与相位编码阶跃为零相对应的所述回波信号发生时的所述读取方向梯度磁场的极性与所述第1采集部进行的所述第1模板数据的采集时相反的方式,进行所述第2模板数据的采集。

7.如权利要求6所记载的磁共振成像装置,其特征在于:

所述校正部,针对从所述第1及第2模板数据得到的各k空间数据,分别计算出基于对虚数数据的中心线进行了1维傅立叶逆变换后的数据的频率积分值与对实数数据的中心线进行了1维傅立叶逆变换后的数据的频率积分值之比的值的反正切,基于所述反正切进行所述相位误差的校正。

8.如权利要求7所记载的磁共振成像装置,其特征在于:

所述第2采集部,以使与相位编码阶跃为零相对应的所述回波信号的产生时刻与所述第1采集部进行的所述第1模板数据的采集时错开的方式,进行所述第2模板数据的采集;

所述校正部,生成基于所述第1模板数据的相位图像和基于所述第2模板数据的相位图像的差分图像作为所述磁场校正映射图,基于所述磁场校正映射图进行所述磁场校正。

9.如权利要求4所记载的磁共振成像装置,其特征在于:

所述第2采集部,以使与相位编码阶跃为零相对应的所述回波信号的产生时刻与所述第1采集部进行的所述第1模板数据的采集时错开的方式,进行所述第2模板数据的采集。

10.如权利要求9所记载的磁共振成像装置,其特征在于:

所述校正部生成与所述第1模板数据和所述第2模板数据的相位差相当的磁场校正映射图,基于所述磁场校正映射图进行所述磁场校正。

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