[发明专利]磁共振成像装置有效
申请号: | 201180002009.0 | 申请日: | 2011-05-27 |
公开(公告)号: | CN102427763A | 公开(公告)日: | 2012-04-25 |
发明(设计)人: | 山下裕市;油井正生 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝;东芝医疗系统株式会社 |
主分类号: | A61B5/055 | 分类号: | A61B5/055 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 张靖琳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 磁共振 成像 装置 | ||
技术领域
本发明涉及磁共振成像装置。
背景技术
基于磁共振成像装置(以下,成为MRI(Magnetic Resonance Imaging)装置)的摄影是通过利用核磁共振现象,主要对被检体内部进行图像化的方法。具体而言,为了MRI装置使核磁共振现象发生,而将与共振频率对应的高频率脉冲(以下,RF(Radio Frequency)脉冲)施加至发送线圈,发送线圈产生高频率磁场(以下,称为RF(B1)磁场)。
在此,由于共振频率与静磁场强度成比例,因此,存在如果静磁场强度变大,则共振频率也升高的关系,但静磁场强度如果超过例如1.5T(特斯拉),则由于被检体内部的电力损失或感应共振等,RF(B1)磁场的分布变得不均匀。即,在被检体内部,RF(B1)强度变得不均匀,图像的均匀度也降低。具体而言,在图像中,发生部分信号降低、对比度降低的问题,图像劣化。因此,目前,提出了在静磁场强度超过例如1.5T的MRI装置中,用于使RF(B1)强度均匀的方法。
现有技术文献
专利文献1:日本特许第4004964号说明书
专利文献2:日本特表2008-514259号公报
发明内容
但是,即使根据现有技术,也难以使RF(B1)强度完全均匀,依然存在RF(B1)强度不均匀的情况。因此,也依然存在RF(B1)强度的不均匀导致的图像的劣化的问题。因此,寻求降低由于RF(B1)强度的不均匀导致的图像的劣化的方法。
实施方式的MRI装置具备第一收集部、第二收集部、合成部。上述第一收集部执行基于第一高频率脉冲发送条件的脉冲序列,并收集数据。上述第二收集部执行基于与上述第一高频率脉冲发送条件不同的第二高频率脉冲发送条件的脉冲序列,并收集数据。上述合成部对于通过上述第一收集部收集的数据及通过上述第二收集部收集的数据、或将通过上述第一收集部收集的数据重建的数据及将通过上述第二收集部收集的数据重建的数据进行合成处理。
附图说明
图1是表示实施例1的MRI装置的结构的图。
图2是表示实施例1的控制部的结构的图。
图3是表示实施例1的控制部的处理顺序的流程图。
图4是用于说明基于实施例1的图像合成部的合成处理的技术含义的图。
图5A是表示静磁场强度在3T、高速自旋回波法中实施的例子的图。
图5B是表示在静磁场强度为3T、高速自旋回波法中实施的例子的图。
图5C是表示在静磁场强度为3T、高速自旋回波法中实施的例子的图。
图5D是表示在静磁场强度为3T、高速自旋回波法中实施的例子的图。
图6A是表示在静磁场强度为3T、高速自旋回波法中实施3次数据收集的例子的图。
图6B是表示在静磁场强度为3T、高速自旋回波法中实施3次数据收集的例子的图。
图6C是表示在静磁场强度为3T、高速自旋回波法中实施3次数据收集的例子的图。
图6D是表示在静磁场强度为3T、高速自旋回波法中实施3次数据收集的例子的图。
图7A是用于说明实施例1中的数据收集的变形例的图。
图7B是用于说明实施例1中的数据收集的变形例的图。
图8A是用于说明实施例1中的数据收集的变形例的图。
图8B是用于说明实施例1中的数据收集的变形例的图。
图8C是用于说明实施例1中的数据收集的变形例的图。
图8D是用于说明实施例1中的数据收集的变形例的图。
图9A是用于说明实施例2中的数据收集的图。
图9B是用于说明实施例2中的数据收集的变形例的图。
图10A是用于说明实施例2中的图像重建的图。
图10B是用于说明实施例2中的图像重建的图。
图10C是用于说明实施例2中的图像重建的图。
图11是表示实施例2的控制部的处理顺序的流程图。
符号说明
100:MRI装置;25:控制部;25a:第一收集部;25b:第二收集部;25c:图像重建部;25d:图像合成部。
具体实施方式
下面,作为本实施方式所涉及的MRI装置的一例,说明实施例1~3所涉及的MRI装置。
【实施例1】
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