[发明专利]电子材料用Cu-Co-Si系铜合金及其制造方法有效
申请号: | 201180004186.2 | 申请日: | 2011-04-08 |
公开(公告)号: | CN102575320A | 公开(公告)日: | 2012-07-11 |
发明(设计)人: | 桑垣宽 | 申请(专利权)人: | JX日矿日石金属株式会社 |
主分类号: | C22C9/06 | 分类号: | C22C9/06;C22C9/00;C22C9/01;C22C9/02;C22C9/04;C22C9/05;C22C9/10;C22F1/08;H01B1/02;C22F1/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 孔青;高旭轶 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电子 材料 cu co si 铜合金 及其 制造 方法 | ||
1.电子材料用铜合金,其中含有Co:0.5~3.0%(质量)、Si:0.1~1.0%(质量),剩余部分由Cu和不可避免的杂质构成,在母相中析出的第二相颗粒中,粒径为5nm以上、50nm以下的第二相颗粒的个数密度为1×1012~1×1014个/mm3,粒径为5nm以上、不足10nm的第二相颗粒的个数密度以相对于粒径为10nm以上、50nm以下的第二相颗粒的个数密度之比来表示为3~6。
2.权利要求1所述的电子材料用铜合金,其中,粒径为5nm以上、不足10nm的第二相颗粒的个数密度为2×1012~7×1013,粒径为10nm以上、50nm以下的第二相颗粒的个数密度为3×1011~2×1013。
3.权利要求1或2所述的电子材料用铜合金,根据JIS H 3130进行Badway的W弯曲试验时,不会产生裂纹的最小半径MBR与板厚t之比即MBr/t值为2.0以下。
4.权利要求1~3中任一项所述的电子材料用铜合金,其中进一步含有最多为2.5%(质量)的Ni。
5.权利要求1~4中任一项所述的电子材料用铜合金,其中进一步含有最多为0.5%(质量)的Cr。
6.权利要求1~5中任一项所述的电子材料用铜合金,其中进一步含有总计最多为2.0%(质量)的选自Mg、P、As、Sb、Be、B、Mn、Sn、Ti、Zr、Al、Fe、Zn和Ag的一种或两种以上。
7.电子材料用铜合金的制造方法,该方法包括依次进行下述步骤:
步骤1:熔解铸造具有权利要求1、4~6中任一项所述的组成的铸锭;
步骤2:使材料温度为950℃以上、1050℃以下加热1小时以上之后进行热轧;
随意的冷轧步骤3;
步骤4:进行将材料温度加热至850℃以上、1050℃以下的固溶处理;
第一时效处理步骤5:使材料温度为400℃以上、600℃以下加热1~12小时,其中,当铸锭含有1.0~2.5%(质量)的Ni时,使材料温度为400℃以上、500℃以下;
冷轧步骤6,其中,轧制率为10%以上;以及
第二时效处理步骤7:使材料温度为300℃以上、400℃以下加热3~36小时,使该加热时间为第一时效处理中的加热时间的3~10倍。
8.权利要求7所述的电子材料用铜合金的制造方法,其中,冷轧步骤6中的轧制率为10~50%。
9.伸铜制品,其中包含权利要求1~6中任一项所述的电子材料用铜合金。
10.电子零件,其具备权利要求1~6中任一项所述的电子材料用铜合金。
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