[发明专利]荧光观察装置有效
申请号: | 201180007295.X | 申请日: | 2011-02-04 |
公开(公告)号: | CN102724908A | 公开(公告)日: | 2012-10-10 |
发明(设计)人: | 小野芙美子;石原康成 | 申请(专利权)人: | 奥林巴斯株式会社 |
主分类号: | A61B1/00 | 分类号: | A61B1/00;A61B1/04 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉;于英慧 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 荧光 观察 装置 | ||
1.一种荧光观察装置,其特征在于,具有:
照明光源,其产生向被检体照射的照明光和激励光;
返回光图像生成部,其对从该照明光源发出的照明光在上述被检体的返回光进行摄影,生成返回光图像;
荧光图像生成部,其对利用上述照明光源发出的激励光而在上述被检体处产生的荧光进行摄影,生成荧光图像;
规格化运算部,其运算按照对应的返回光图像的各像素的亮度值对该荧光图像生成部生成的荧光图像的各像素的亮度值进行规格化而得到的规格化荧光强度;
标准数据存储部,其存储表示标准的规格化荧光强度与被检体状态之间的对应关系的标准数据;以及
状态判定部,其根据由上述规格化运算部运算得到的规格化荧光强度的最小值和存储于上述标准数据存储部的标准数据,判定与各规格化荧光强度对应的被检体状态。
2.根据权利要求1所述的荧光观察装置,其特征在于,上述状态判定部计算上述规格化运算部运算出的规格化荧光强度在同一图像内的最小值与上述标准数据的最小值之差,使用上述标准数据判定将计算出的差与各规格化荧光强度相加得到的校正荧光强度所对应的被检体状态。
3.根据权利要求2所述的荧光观察装置,其特征在于,上述荧光观察装置具有:
最小值存储部,其存储上述规格化运算部运算得到的规格化荧光强度在同一图像内的最小值;以及
最小值更新部,其在对同一被摄体新近取得的图像内的规格化荧光强度的最小值小于存储于上述最小值存储部中的最小值的情况下,更新存储于上述最小值存储部内的最小值。
4.根据权利要求1所述的荧光观察装置,其特征在于,
上述标准数据存储部存储最小值不同的多个标准数据,
上述状态判定部选择如下标准数据:该标准数据具有的最小值与上述规格化运算部运算得到的规格化荧光强度在同一图像内的最小值最为近似,上述状态判定部使用选择出的标准数据判定与各规格化荧光强度对应的被检体状态。
5.根据权利要求1所述的荧光观察装置,其特征在于,上述状态判定部对于上述规格化运算部计算出的规格化荧光强度在同一画面内的最小值与上述标准数据中的规格化荧光强度的最大值之间的各规格化荧光强度,使用预定函数对存储于上述标准数据存储部的标准数据中的从最小值到最大值的被检体状态进行插值并分配。
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