[发明专利]自动分析装置无效
申请号: | 201180007538.X | 申请日: | 2011-01-26 |
公开(公告)号: | CN102725642A | 公开(公告)日: | 2012-10-10 |
发明(设计)人: | 沙希德·萨瓦尔;田中一启 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
主分类号: | G01N35/10 | 分类号: | G01N35/10;G01N1/00 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 丁文蕴;李延虎 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 自动 分析 装置 | ||
1.一种自动分析装置,其进行测定对象试样的分析,其特征在于,
具有:
容纳上述测定对象试样的试样容器;
分注上述测定对象试样的探针机构;
可装卸地安装于上述探针机构中与上述测定对象试样的浸渍部分的导电性针头;
检测上述探针机构的针头与上述自动分析装置上预先决定的基准电位间的静电电容的静电电容检测部;以及
根据上述静电电容检测部的检测结果来判定上述针头对探针机构的安装状态的安装状态判定部。
2.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
容纳于上述试样容器的上述测定对象试样与上述基准电位电连接。
3.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
上述安装状态判定部根据上述静电电容与预先决定的阈值的比较结果来判断上述针头的装卸状态。
4.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
上述安装状态判定部根据上述静电电容的变化率来判断上述针头的装卸状态。
5.一种分析方法,其是利用如下自动分析装置的分析方法,
该自动分析装置具有容纳上述测定对象试样的试样容器、分注上述测定对象试样的探针机构、以及可装卸地安装于上述探针机构中与上述测定对象试样的浸渍部分的导电性针头,上述分析方法的特征在于,具有:检测上述探针机构的针头与上述自动分析装置上预先决定的基准电位间的静电电容进行的步骤;以及根据上述静电电容检测部的检测结果来判定上述针头对探针机构的安装状态的步骤。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社日立高新技术,未经株式会社日立高新技术许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201180007538.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种网格反应平流沉淀池
- 下一篇:一种应用于微波毫米波电路的滤波天线