[发明专利]用于将测试条从测试仪中弹出的形状记忆合金弹出机构

权利要求书

1.一种与测试条接纳口和测试条结合使用的测试条弹出机构，包括：

框架，所述框架连接到所述测试条接纳口；

细长的形状记忆合金条，所述细长的形状记忆合金条具有纵向轴线、第一末端和第二末端，所述第一末端和所述第二末端通过附连到所述框架而受到约束，所述形状记忆合金条显示具有固态过渡温度；

滑块，所述滑块被构造为沿所述框架行进；和

加热模块，所述加热模块被构造为将所述形状记忆合金条从低于所述固态过渡温度的温度加热至高于所述固态过渡温度的温度；

其中所述形状记忆合金条和所述滑块被构造为使得在所述形状记忆条被所述加热模块从低于所述固态过渡温度的温度加热至高于所述固态温度的温度时，所述滑块在通过所述形状记忆合金条施加到所述滑块上的力的作用下沿着所述框架行进；并且

其中所述滑块具有近端，所述近端被构造为接合容纳在所述测试条接纳口内的测试条并在所述滑块沿着所述框架行进时将所述测试条从所述测试条接纳口中弹出。

2.根据权利要求1所述的测试条弹出机构，还包括：

弹簧，所述弹簧被构造为当所述形状记忆合金条处于低于所述固态过渡温度的温度时使所述形状记忆合金条返回并保持处于变形构型，并且当所述形状记忆合金条被加热到高于所述固态过渡温度的温度时使得所述形状记忆合金条能够移动到编程构型。

3.根据权利要求2所述的测试条弹出机构，还包括：

主轴，并且

其中所述弹簧以环形构型设置在所述主轴周围，并且所述弹簧通过所述主轴将力施加在所述滑块上。

4.根据权利要求1所述的测试条弹出机构，其中当所述形状记忆合金条处于低于所述固态过渡温度的温度时，所述形状记忆合金条处于变形构型；并且当所述形状记忆合金条被加热至高于所述固态过渡温度的温度时，所述形状记忆合金条处于编程构型。

5.根据权利要求4所述的测试条弹出机构，其中处于所述变形构型的所述形状记忆合金的纵向轴线处于弓形构型，并且处于所述编程构型的所述形状记忆合金条的纵向轴线处于基本上为直线的构型。

6.根据权利要求5所述的测试条弹出机构，其中所述直线构型基本上垂直于测试条弹出方向。

7.根据权利要求1所述的测试条弹出机构，其中所述加热模块被构造为通过迫使电流流经所述形状记忆合金条来加热所述形状记忆合金条。

8.根据权利要求1所述的测试条弹出机构，其中所述形状记忆合金条为形状记忆合金线。

9.根据权利要求8所述的测试条弹出机构，其中所述形状记忆合金线为镍-钛形状记忆合金线。

10.根据权利要求1所述的测试条弹出机构，还包括：

第一夹具；和

第二夹具，并且

其中所述形状记忆合金条的所述第一末端和所述第二末端通过分别经由所述第一夹具和所述第二夹具附连到所述框架而受到约束。

11.一种与测试条结合使用的测试仪，所述测试仪包括：

测试条接纳口，所述测试条接纳口被构造为接纳并从其中弹出测试条；

测试条弹出机构，所述测试条弹出机构包括：

框架，所述框架连接到所述测试条接纳口；

细长的形状记忆合金条，所述细长的形状记忆合金条具有纵向轴线、第一末端和第二末端，所述第一末端和所述第二末端连接到所述框架，所述形状记忆合金条显示具有固态过渡温度；

滑块，所述滑块被构造为沿所述框架行进；和

加热模块，所述加热模块被构造为将所述形状记忆合金线从低于所述固态过渡温度的温度加热至高于所述固态过渡温度的温度；

其中所述形状记忆合金条和所述滑块被构造为使得在所述形状记忆条被所述加热模块从低于所述固态过渡温度的温度加热至高于所述固态温度的温度时，所述滑块在通过所述形状记忆合金条施加到所述滑块上的力的作用下沿着所述框架行进；并且

其中所述滑块具有近端，所述近端被构造为接合容纳在所述测试条接纳口内的测试条并在所述滑块沿着所述框架行进时将所述测试条从所述测试条接纳口中弹出。

12.根据权利要求11所述的测试仪，还包括：

测试条接纳口框架，并且

其中所述测试条接纳口和所述测试条弹出机构被连接到所述测试条接纳口框架。