[发明专利]用于光伏领域的坩埚有效

专利信息
申请号: 201180009758.6 申请日: 2011-01-14
公开(公告)号: CN102884024A 公开(公告)日: 2013-01-16
发明(设计)人: R·瓦格纳;M·马图塞克 申请(专利权)人: H.C.施塔克股份有限公司
主分类号: C04B41/50 分类号: C04B41/50;C30B11/00;C30B15/10;C30B29/06;C30B35/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 石克虎;林森
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 用于 领域 坩埚
【权利要求书】:

1.用于制备具有无添加剂的氮化硅层的工件的方法,其中

a.提供了工件的基体;

b.将含有硅粉的粉浆层施加在基体的内侧;

c.在氮气下,使所述带有涂层的基体经受反应烧制,其中将硅转化为氮化硅。

2.根据权利要求1的方法,其特征在于,所述基体的材料选自氮化物结合碳化硅、石墨、碳纤维基碳(CFC)和/或石墨与碳纤维基碳的混合物。

3.根据权利要求1或2的方法,其特征在于,根据权利要求1、点b)的粉浆

a.含有硅粉,如果所述基体的材料含有氮化物结合碳化硅,或

b.含有硅粉与氮化硅粉的混合物,如果基体的材料含有石墨,碳纤维基碳和/或它们的混合物。

4.根据权利要求1到3任一项的方法,其特征在于,如果基体的材料含有氮化物结合碳化硅,则根据权利要求1、点b)的粉浆的无机部分由硅粉构成。

5.根据权利要求3的方法,其特征在于,所述粉浆含有55-90重量%氮化硅和10-45重量%硅,基于硅和氮化硅的总和计。

6.根据上述权利要求的任一项的方法,其特征在于,根据ISO13320标准用Coulter Beckmann13320粒度仪测量,用于涂覆覆盖层的硅粉具有D98≤20μm和/或D50≤4μm的颗粒大小分布。

7.根据上述权利要求的任一项的方法,其特征在于,根据ISO13320标准用Coulter Beckmann13320粒度仪测量,可用于涂覆覆盖层的氮化硅粉具有D98≤10μm和/或D50≤2.5μm的颗粒大小分布。

8.根据上述权利要求的任一项的方法,其特征在于,根据权利要求1点b的含有硅粉的粉浆层通过粉浆浇注和/或通过喷涂方法和/或通过涂刷方法来施加。

9.根据上述权利要求的任一项的方法,其特征在于,在反应烧制后,根据权利要求1、点b)由粉浆形成的隔离中间层的层厚为0.2mm-2.0mm。

10.根据权利要求1到9的至少一项可获得的工件。

11.由根据权利要求10的工件可获得的组件。

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