[发明专利]铝合金导体有效
申请号: | 201180010674.4 | 申请日: | 2011-02-25 |
公开(公告)号: | CN102803531A | 公开(公告)日: | 2012-11-28 |
发明(设计)人: | 关谷茂树;须斋京太 | 申请(专利权)人: | 古河电气工业株式会社;古河AS株式会社 |
主分类号: | C22C21/00 | 分类号: | C22C21/00;C22F1/04;H01B1/02;H01B5/02;C22F1/00 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 丁香兰;褚瑶杨 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 铝合金 导体 | ||
技术领域
本发明涉及用作电配线体的导体的铝合金导体。
背景技术
以往,使用被称作线束(wire harness)的部件作为汽车、电车、飞行器等移动体的电配线体,这种部件在含有铜或铜合金导体的电线上安装有铜或铜合金(例如黄铜)制的端子(连接器),但近年来,在移动体的轻量化中,正在进行使用比铜或铜合金更轻量的铝或铝合金作为电配线体的导体的研究。
铝的比重约为铜的1/3,铝的导电率约为铜的2/3(以纯铜作为100%IACS的基准的情况下,纯铝约为66%IACS),为了在纯铝导体中流通与纯铜的导体相同的电流,需要使纯铝导体的截面积为纯铜导体的约1.5倍,但即使这样,仍然具有重量约为铜的一半这样的优势。
需要说明的是,上述的%IACS表示以国际标准软铜(International Annealed Copper Standard)的电阻率1.7241×10-8Ωm作为100%IACS时的导电率。
为了将该铝用作移动体的电配线体存在着几个问题,其中有一个是提高耐挠曲疲劳特性。对于移动体的电配线体所使用的铝导体要求耐挠曲疲劳特性,其原因是安装于门等的线束因门的开关而承受反复弯曲应力。对于铝等金属材料,若如门的开关那样反复对其施加、解除负荷,即使是在一次的负荷下不会发生断裂的这样的低负荷,也会在某一反复次数下产生疲劳破坏而发生断裂。若所述铝导体用于开关部时,如果耐挠曲疲劳特性差,则其在使用中可能发生导体断裂,存在着耐久性、信赖性欠缺这样的问题。
一般来说,强度越高的材料,疲劳特性越好。因此,采用强度高的铝导体即可,但要求线束在进行其设置时要容易进行处理(车体上的安装作业),因此一般来说大多使用能够确保柔软性的韧材(退火材)。
由此,对于移动体的电配线体所使用的铝导体,除在处理和安装时所需的强度和柔软性、为流通较多的电流所需的导电率之外,还要求该材料的耐挠曲疲劳特性优异。
对于具有这样的要求的用途,以输电线用铝合金线材(JIS A1060和JIS A1070)为代表的纯铝系无法充分承受由门等的开关而产生的反复弯曲应力。另外,加入了各种各样的添加元素的合金化虽然在强度方面优异,但存在下述问题:因向铝中所添加的元素的固溶现象而导致导电率的下降、柔软性下降;因在铝中形成过剩的金属间化合物而在拉丝加工中发生金属间化合物导致的断线。为此,需要对添加元素进行限定、选择以防止导电率下降、柔软性下降,提高强度和耐挠曲疲劳特性,并且必须不发生断线。
作为移动体的电配线体所使用的铝导体的代表,存在有专利文献1~4所述的铝导体。但是,如下所述,无论哪一个专利文献所述的发明均具有进一步要解决的课题。
专利文献1的发明中,未进行最终退火,因此无法确保在车体中的安装作业时所需的柔软性。
专利文献2的发明中,虽然对最终退火有公开,但其条件与对金属间化合物进行控制从而能够在保持优异的柔软性的状态下使耐挠曲疲劳特性和导电率等提高的条件不同。
专利文献3的发明中,Mg和Si的量多,因此无法适当地控制金属间化合物,这成为拉丝加工等时断线的原因。
专利文献4的发明中,添加元素含有锑(Sb),因此从环境负荷的观点出发,是正要由替代产品替换的技术。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2006-19163号公报
专利文献2:日本特开2006-253109号公报
专利文献3:日本特开2008-112620号公报
专利文献4:日本特公昭55-45626号公报
发明内容
发明要解决的问题
本发明的课题为提供一种铝合金导体,其具有充分的导电率和拉伸强度,并且耐挠曲疲劳特性、柔软性等优异。
用于解决问题的手段
本发明人反复进行了各种各样的研究,发现对于添加了特定的添加元素的铝合金,通过对铸造冷却速度、中间退火、最终退火等制造条件进行控制,从而能够对2种金属间化合物的粒径和面积率进行控制,制造具备优异的耐挠曲疲劳特性、强度、柔软性和导电率的铝合金导体,基于该见解而完成了本发明。
即,本发明提供以下的解决手段。
(1)一种铝合金导体,该铝合金导体含有0.4质量%~0.9质量%的Fe,其余由Al和不可避免的杂质的构成,其特征在于,
在所述导体中存在2种金属间氧化物A、B,
所述金属间化合物A的粒径在0.1μm以上且2μm以下的范围,
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