[发明专利]用于确定散射光测量设备的测量结果质量的方法和装置有效
申请号: | 201180011085.8 | 申请日: | 2011-01-03 |
公开(公告)号: | CN102762972A | 公开(公告)日: | 2012-10-31 |
发明(设计)人: | K.施坦格尔;G.哈加;M.诺伊恩多夫;R.西格 | 申请(专利权)人: | 罗伯特·博世有限公司 |
主分类号: | G01N21/27 | 分类号: | G01N21/27;G01N21/47;G01N21/53 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 李少丹;卢江 |
地址: | 德国斯*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 确定 散射 测量 设备 结果 质量 方法 装置 | ||
1. 用于确定散射光测量设备(3)的测量结果质量的方法,该散射光测量设备被设置用于测量汽车尾气中的微粒浓度,并具有至少一个散射光测量室(26)、至少一个光源(4)和至少一个光传感器(6a,6b),其中该方法具有以下的步骤:
A)在该散射光散射光测量设备的参考状态中:
A1)在该散射光测量设备的定义的第一运行状态中测量并存储第一散射光传感器信号(S1);
A2)在该散射光测量设备的定义的第二运行状态中测量并存储第二散射光传感器信号(S2);
A3)确定并存储在该第二散射光传感器信号(S2)与该第一散射光传感器信号(S1)之间的参考信号差(R);
B)在该散射光散射光测量设备的使用状态中:
B1)在该散射光测量设备的定义的第一运行状态中测量并存储第一散射光传感器信号(M1);
B2)在该散射光测量设备的定义的第二运行状态中测量并存储第二散射光传感器信号(M2);
B3)确定并存储在该第二散射光传感器信号(M2)与该第一散射光传感器信号(M1)之间的信号差(D);
C)把在使用状态中的信号差(D)与在参考状态中所记录的参考信号差R相比较。
2. 根据权利要求1所述的方法,其中该光源(4)在该定义的第一运行状态中被关闭。
3. 根据权利要求1或2所述的方法,其中在至少一个运行状态中把具有定义散射特性的测量体引入到所述散射光测量室(26)中。
4. 根据前述权利要求之一所述的方法,其中在至少一个运行状态中该光源(4)被接通,并把具有定义微粒浓度的参考气体流传导穿过所述散射光测量室(26)。
5. 根据权利要求4所述的方法,其中参考气体是具有尤其低微粒浓度的零气体。
6. 根据前述权利要求之一所述的方法,其中在该散射光测量设备的使用状态中要实施的步骤B1至B3和C规则地以预先给定的时间间隔和/或在预先给定数量的测量过程之后被实施。
7. 根据前述权利要求之一所述的方法,其中用于确定参考信号差R的步骤A1至A3直接在该散射光测量设备制造之后来进行。
8. 根据权利要求1至7之一所述的方法,其中用于确定参考信号差R的步骤A1至A3直接在该散射光测量设备架设在使用位置之后来进行。
9. 根据前述权利要求之一所述的方法,其中用于确定参考信号差R的步骤A1至A3在所述散射光测量室(26)清洁之后来进行。
10. 用于测量汽车尾气中微粒浓度的散射光测量设备,其具有至少一个用于存储参考信号差的存储装置和控制装置,该控制装置被设立用于实施根据前述权利要求之一所述的方法。
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