[发明专利]校正使用坐标定位设备所获得的测量的误差

权利要求书

1.一种操作坐标定位设备的方法，该坐标定位设备具有测量探针，所述方法按任何适当顺序包括如下步骤：

（i）在一系列名义相同零件中取得第一零件，与第一零件的一个或多个特征相关联的至少第一基准几何特性是已知的，

（ii）使用坐标定位设备来测量第一零件的所述一个或多个特征，并且由此确定第一测量几何特性，该第一测量几何特性与第一基准几何特性相对应，

（iii）确定第一特性校正值，该第一特性校正值描述第一基准几何特性与第一测量几何特性之间的差别，

（iv）使用坐标定位设备来测量在一系列名义相同零件中的一个或多个另外零件的一个或多个特征，并且对于每个另外零件，确定另外的测量几何特性，该另外的测量几何特性与第一基准几何特性相对应，以及

（v）将第一特性校正值应用于每个另外的测量几何特性。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，第一零件的一个或多个特征包括至少第一特征和第二特征，其中，第一基准几何特性描述在第一特征和第二特征之间的关系。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，第一基准几何特性包括第一特征相对于第二特征的平行度、垂直度、倾斜度、位置、同心度、同轴度、对称度、圆形跳动或总跳动的至少一个。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，第一零件的一个或多个特征包括第一特征，并且第一基准几何特性单独地描述第一特征的几何特性。

5.根据权利要求4所述的方法，其中，第一基准几何特性描述第一特征的尺寸、形状、直度、平度、圆度及圆柱度的至少一个。

6.根据任一以上权利要求所述的方法，其中，第一基准几何特性包括名义几何特性，该名义几何特性从设计数据导出，该设计数据与第一零件相关联。

7.根据权利要求1至5任一项所述的方法，其中，步骤（i）包括步骤：使用基准坐标定位设备来测量第一零件，其中，第一基准几何特性包括测量基准几何特性，该测量基准几何特性从使用基准坐标定位设备取得的第一零件的测量获得。

8.根据权利要求7所述的方法，其中，基准坐标定位设备包括预校准、桥型坐标测量机。

9.根据任一以上权利要求所述的方法，其中，步骤（ii）包括：使用坐标定位设备来测量在第一零件的一个或多个特征的每一个的表面上的多个点的位置。

10.根据权利要求9所述的方法，其中，步骤（ii）包括：将由坐标定位设备测量的多个点拟合成一函数，以建立第一测量几何特性。

11.根据任一以上权利要求所述的方法，其中，在步骤（iii）中确定的第一特性校正值包括在第一测量几何特性与第一基准几何特性之间的向量差。

12.根据任一以上权利要求所述的方法，其中，坐标定位设备包括并行运动坐标定位设备。

13.根据任一以上权利要求所述的方法，其中，与第一零件的一个或多个特征相关联的至少一个附加基准几何特性是已知的。

14.根据任一以上权利要求所述的方法，其中，坐标定位设备的测量探针包括接触式测量探针，该接触式测量探针具有可挠曲触针。

15.一种坐标定位设备，其包括测量探针和控制器，其中，控制器编程为对于在一系列名义相同零件中的第一零件实施误差校正技术，该第一零件具有一个或多个特征，其中，控制器存储至少第一基准几何特性，该至少第一基准几何特性与第一零件的所述一个或多个特征相关联，由控制器实施的误差校正技术包括步骤：

使用测量探针来测量第一零件的一个或多个特征，并且由此计算第一零件的第一测量几何特性，第一测量几何特性与第一基准几何特性相对应，和

将第一基准几何特性与第一测量几何特性相比较，并且计算第一特性校正值，

其中，控制器存储第一特性校正值，该第一特性校正值用来校正一个或多个另外零件的测量几何特性，该一个或多个另外零件在名义上与第一零件相同。