[发明专利]使用自电容及互电容两者的电容性触摸系统有效

专利信息
申请号: 201180012691.1 申请日: 2011-04-28
公开(公告)号: CN102782626A 公开(公告)日: 2012-11-14
发明(设计)人: 杰里·哈诺尔;托德·奥康纳 申请(专利权)人: 密克罗奇普技术公司
主分类号: G06F3/044 分类号: G06F3/044;G06F3/041
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 沈锦华
地址: 美国亚*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 使用 电容 两者 触摸 系统
【权利要求书】:

1.一种用于在多点触摸传感器系统中确定多个触摸事件的方法,所述多点触摸传感器系统具有包含由多个电极界定的多个节点的触摸传感器,所述方法包括:

针对所述多个电极中的至少两者执行自电容测量;

由于所述所执行的自电容测量而检测一个或一个以上经触摸电极;

仅针对所述节点的一子组执行多个互电容测量,其中所述子组少于所有所述节点且至少包含对应于所述经触摸电极的所述节点;及

由于所述多个互电容测量而检测两个或两个以上经触摸节点。

2.根据权利要求1所述的方法,其中所述一个或一个以上经触摸电极仅包括一个经触摸电极。

3.根据权利要求1所述的方法,其中:

所述多个电极包括第一组电极及第二组电极;

对所述电极中的每一者执行所述自电容测量;且

所述经触摸电极包括来自所述第一组电极及所述第二组电极两者的电极。

4.根据权利要求3所述的方法,其中所述子组的节点仅包括对应于所述经触摸电极的所述节点。

5.根据权利要求3所述的方法,其中所述子组的节点包括邻近于所述经触摸电极的节点。

6.根据权利要求3所述的方法,其中根据以下各项中的至少一者来执行所述自电容测量及所述互电容测量:频率测量方法、周期测量方法、VACST方法及TCSV方法。

7.根据权利要求3所述的方法,其中通过消除过程来检测所述经触摸节点。

8.根据权利要求3所述的方法,其中执行恰好一个互电容测量且基于所述测量而检测两个经触摸节点。

9.根据权利要求3所述的方法,其中所述第一组电极对应于所述触摸传感器的第一层。

10.根据权利要求9所述的方法,其中所述第二组电极对应于所述触摸传感器的第二层。

11.根据权利要求3所述的方法,其中当物件接近于但不直接接触所述经触摸电极时,检测所述经触摸电极。

12.根据权利要求3所述的方法,其中当物件接近于但不直接接触经触摸节点时,检测所述经触摸节点。

13.根据权利要求1所述的方法,其中:

所述多个电极包括第一组电极及第二组电极;

对所述第一组电极中的所述电极中的每一者而不对所述第二组电极中的所述电极执行所述自电容测量;且

所述经触摸电极包括仅来自所述第一组电极的电极。

14.一种用于检测触摸传感器上的一个或一个以上触摸事件的系统,其包括:

触摸传感器,其具有由多个电极界定的多个节点;

自电容测量构件,其用于测量所述多个电极中的每一者的自电容;

互电容测量构件,其用于测量所述节点的仅一子组处的互电容,其中所述子组少于所有所述节点且基于所述自电容测量构件的输出而确定;及

检测构件,其用于基于所述自电容测量构件的所述输出及所述互电容测量构件的输出而检测两个或两个以上经触摸节点。

15.一种用于检测触摸传感器上的一个或一个以上触摸事件的系统,其包括:

触摸传感器,其具有由多个电极界定的多个节点;及

触摸控制器,其具有用于测量所述多个电极中的每一者的自电容的自电容测量构件及用于测量所述多个节点中的每一者的互电容的互电容测量构件;

其中所述触摸控制器可操作以:

使用所述自电容测量构件针对所述多个电极中的至少两者执行自电容测量;

由于所述所执行的自电容测量而检测一个或一个以上经触摸电极;

使用所述互电容测量构件仅针对所述节点的一子组执行多个互电容测量,其中所述子组少于所有所述节点且至少包含对应于所述经触摸电极的所述节点;及

由于所述多个互电容测量而检测两个或两个以上经触摸节点。

16.根据权利要求15所述的系统,其中所述一个或一个以上经触摸电极仅包括一个经触摸电极。

17.根据权利要求15所述的系统,其中:

所述多个电极包括第一组电极及第二组电极;

所述触摸控制器对所述节点中的每一者执行所述自电容测量;且

所述经触摸电极包括来自所述第一组电极及所述第二组电极两者的电极。

18.根据权利要求15所述的系统,其中:

所述多个电极包括第一组电极及第二组电极;

所述触摸控制器对所述第一组电极中的所述电极中的每一者而不对所述第二组电极中的所述电极执行所述自电容测量;且

所述经触摸电极包括仅来自所述第一组电极的电极。

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