[发明专利]幅材制备工艺中专用的重复缺陷检测

权利要求书

1.一种方法，包括：

对幅材的连续部分成像以提供数字信息；

采用至少一种初始算法来处理所述数字信息，以辨识所述幅材上包含异常的区域；

辨识所述异常在所述幅材上的位置；

根据所述幅材上的所述位置，将一组所述异常辨识为重复异常，并且将剩余的异常辨识为随机异常；

采用第一缺陷检测算法来分析所述重复异常的所述数字信息，以确定所述重复异常中的哪些表示产品的实际缺陷；

采用第二缺陷检测算法来分析所述随机异常的所述数字信息，以确定所述随机异常中的哪些表示所述产品的实际缺陷；以及

根据所确定的所述产品的实际缺陷将所述幅材转换成产品。

2.根据权利要求1所述的方法，其中相比于应用到所述随机异常的所述第二检测算法，所述第一缺陷检测算法被配置成对所述重复异常应用提高的灵敏度。

3.根据权利要求1所述的方法，还包括：

提取所述辨识的区域中的每一个的所述数字信息的一部分，以及

采用所述第一缺陷检测算法和所述第二缺陷检测算法来分析所述数字信息的所述提取的部分，以确定所述幅材中的实际缺陷。

4.根据权利要求3所述的方法，还包括在分析之前储存或缓存所述数字信息的所述提取的部分。

5.根据权利要求4所述的方法，其中在整个所述幅材上已经进行了所述成像之后，分析所述储存的或缓存的部分。

6.根据权利要求1所述的方法，其中所述初始算法包括对所述数字信息进行阈值化并且形成连通域表。

7.根据权利要求1所述的方法，其中所述第一缺陷检测算法和所述第二缺陷检测算法各自包括下述内容中的一个或多个：邻域平均、邻域分级、对比度扩展、各种单值和二值图像处理、数字滤波、纹理分析、分形分析、频率处理、卷积、形态处理、阈值化、连通分量分析、连通域处理或连通域分类。

8.根据权利要求1所述的方法，其中所述第一缺陷检测算法和所述第二缺陷检测算法各自包括多个图像处理操作，其中每一个算法的多个步骤包括至少将每一个异常与组合阈值-像素尺寸标准进行比较。

9.根据权利要求8所述的方法，其中用于所述第一缺陷检测算法的所述组合阈值-像素尺寸标准限定的像素尺寸小于由用于所述第二缺陷检测算法的阈值-像素标准限定的像素尺寸。

10.根据权利要求8所述的方法，其中用于所述第一缺陷检测算法的所述组合阈值-像素尺寸标准限定的像素尺寸大于由用于所述第二缺陷检测算法的阈值-像素标准限定的像素尺寸。

11.根据权利要求8所述的方法，其中如果满足所述阈值-像素尺寸标准中的任何一个，则将异常辨识为实际缺陷。

12.根据权利要求1所述的方法，还包括：

接收来自幅材制备系统的多个传感器的辊同步信号，其中所述传感器中的每一个对应于所述幅材制备系统的不同辊，并且其中所述辊同步信号中的每一个指示在所述幅材的制备过程中对应的辊已完成完整旋转。

13.一种系统，包括：

编码器，所述编码器位于所述辊中的至少一个上，所述编码器输出表征所述幅材的幅材纵向距离的位置信号；

成像装置，所述成像装置对幅材的连续部分进行成像以提供数字信息；

分析计算机，所述分析计算机采用初始算法来处理所述数字信息，以辨识所述幅材上包含异常的区域，其中所述分析计算机处理所述异常数据，以根据所述位置信号确定所述幅材上的所述异常的所述位置，并且将一组所述异常辨识为重复异常；和

转换控制系统，所述转换控制系统采用第一缺陷检测算法来处理所述重复异常的所述数字信息，以确定所述重复异常中的哪些表示产品的实际缺陷,并且采用第二缺陷检测算法来分析所述随机异常的所述数字信息，以确定所述随机异常中的哪些表示所述产品的实际缺陷。