[发明专利]成像装置和非短期计算机可读存储介质有效
申请号: | 201180013176.5 | 申请日: | 2011-03-10 |
公开(公告)号: | CN102792233A | 公开(公告)日: | 2012-11-21 |
发明(设计)人: | 白崎吉德;宫寺达也;大岛智洋 | 申请(专利权)人: | 株式会社理光 |
主分类号: | G03G15/16 | 分类号: | G03G15/16;G03G15/01;G03G21/14 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 郭定辉 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 成像 装置 短期 计算机 可读 存储 介质 | ||
1.一种成像装置,包括:
成像单元,其包括沿着环形的传送主体的移动方向并置地布置多个图像载体,并且所述成像单元在电子照相处理中在所述图像载体上以不同色彩形成显影剂图像;
第一转印单元,其将在各自的图像载体上形成的所述显影剂图像转印到所述环形的传送主体上;
第二转印单元,其包括旋转主体,所述旋转主体将转印到所述环形的传送主体上的所述显影剂图像转印到记录介质上;
多个图案检测单元,其用光束照射在所述环形的传送主体上形成的给定显影剂图案并检测来自所述图案的反射光的状态;
清洁单元,其在所述环形的传送主体旋转时,施加偏置电压到所述第二转印单元以清洁附着在所述第二转印单元上的显影剂图像;以及
控制单元,其控制每个单元,其中
在所述环形的传送主体的旋转方向上从所述第二转印单元的最上游侧将所述图案检测单元布置在所述第二转印单元和所述图像载体之间,以及
所述控制单元基于所述图案检测单元的检测结果改变所述清洁单元的清洁时间。
2.根据权利要求1的成像装置,其中
所述给定显影剂图案是包括多个色彩的图案的位置偏差校正图案,
所述控制单元包括位置偏差量计算单元,该位置偏差量计算单元在正交于所述环形的传送主体的旋转方向的方向上计算所述环形的传送主体上的所述位置偏差校正图案的位置偏差量,以及
所述位置偏差量计算单元具有用于检测所述位置偏差校正图案的第一检测阈值和用于前端图案检测单元在传送主体穿过所述第二转印单元之后检测在所述环形的传送主体上的残余位置偏差校正图案的第二检测阈值。
3.根据权利要求2的成像装置,其中
所述位置偏差量计算单元用所述第一检测阈值检测给定数量的位置偏差校正图案,并且然后用所述第二检测阈值检测穿过所述第二转印单元之后的所述残余位置偏差校正图案。
4.根据权利要求2的成像装置,其中
预先在存储单元中存储多个所述第一检测阈值,以及
所述位置偏差量计算单元选择对应于包括温度和湿度的周围条件的所述第一阈值。
5.根据权利要求1的成像装置,其中
所述给定显影剂图案包括位置偏差校正图案和密度校正图案,以及
检测所述位置偏差校正图案的所述图案检测单元布置在环形的传送主体的旋转方向上、所述第二转印单元的下游侧,并且检测所述密度校正图案的所述图案检测单元布置在环形的传送主体的旋转方向上、所述第二转印单元的上游侧。
6.根据权利要求1的成像装置,其中
所述清洁单元布置在环形的传送主体的旋转方向上、从所述第二转印单元的最上游侧、所述第二转印单元和所述图像载体之间,以及
所述图案检测单元布置在所述第二转印单元和所述清洁单元之间、安排在环形的传送主体的旋转方向上的下游侧。
7.一种非短期计算机可读存储介质,该非短期计算机可读存储介质具有在其中存储的用于最优化由成像装置的控制单元执行的清洁时间的清洁时间最优化控制程序,该成像装置的控制单元包括
成像单元,其包括沿着环形的传送主体的移动方向并置地布置多个图像载体,并且所述成像单元在电子照相处理中在图像载体上以不同色彩形成显影剂图像;
第一转印单元,其将在各自的图像载体上形成的所述显影剂图像转印到所述环形的传送主体上;
第二转印单元,其包括旋转主体,所述旋转主体将转印到所述环形的传送主体上的所述显影剂图像转印到记录介质上;
多个图案检测单元,其用光束照射在所述环形的传送主体上形成的给定显影剂图案并检测来自所述图案的反射光的状态;
清洁单元,其在所述环形的传送主体上旋转时,施加偏置电压到所述第二转印单元以清洁附着在所述第二转印单元上的显影剂图像;以及
控制单元,其控制每个单元,其中
所述清洁时间最优化控制程序使得计算机执行:
基于所述图案检测单元的检测结果改变所述清洁单元的清洁时间,在所述环形的传送主体的旋转方向上从所述第二转印单元的最上游侧,所述图案检测单元布置在所述第二转印单元和所述图像载体之间。
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