[发明专利]光盘装置

权利要求书

1.一种光盘装置，其特征在于包括：

光源，射出光束；

聚光光学系统，接近信息载体的表面配置，将由所述光源射出的光束生成的近场光聚光于所述信息载体；

聚焦部，使所述光束聚焦于所述信息载体的指定的信息层；

第一受光部，接收由所述聚光光学系统的出射端面反射的反射光；

间隙控制部，基于来自所述第一受光部的信号，控制所述聚光光学系统与所述信息载体的表面之间的距离；

第二受光部，用被分割为多个的受光区域接收来自所述指定的信息层的反射光；

位置偏差检测部，基于来自所述第二受光部的信号，检测所述光束的焦点与记录或再生所述指定的信息层中的信息的点的位置偏差；以及

杂散光检测部，基于来自所述第一受光部的信号，检测来自所述位置偏差检测部的信号中所包含的、作为来自所述信息载体表面的反射光的表面杂散光成分，其中，

所述位置偏差检测部，具有基于由所述杂散光检测部检测出的所述表面杂散光成分，修正从所述位置偏差检测部输出的信号的杂散光修正部。

2.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，

所述位置偏差检测部还具有：

将来自所述第二受光部的多个信号相加的加法部；

对来自所述第二受光部的多个信号进行运算以生成焦点方向位置偏差信号或者轨道方向位置偏差信号的位置偏差信号生成部；以及

通过将来自所述位置偏差信号生成部的焦点方向位置偏差信号或者轨道方向位置偏差信号除以来自所述杂散光修正部的信号，生成标准化信号的标准化部，其中，

所述杂散光修正部，基于由所述杂散光检测部检测出的所述表面杂散光成分，修正来自所述加法部的信号，并将修正后的信号向所述标准化部输出。

3.根据权利要求1或2所述的光盘装置，其特征在于：所述杂散光检测部，通过将来自所述第一受光部的信号输出输入指定的函数，计算所述表面杂散光成分。

4.根据权利要求3所述的光盘装置，其特征在于：所述指定的函数，是将来自所述第一受光部的信号输出近似为所述表面杂散光成分的一次函数。

5.根据权利要求3或4所述的光盘装置，其特征在于：

所述信息载体的信息层，具有不反射照射于信息层的光束的透过区域，

所述光盘装置还包括推定所述指定的函数的函数推定部，其中，

所述函数推定部，设定多个作为所述间隙控制部的控制目标的间隙大小，基于在设定各间隙大小时光束通过所述透过区域时所得到的来自所述加法部的信号大小和所述设定的各间隙大小，推定所述指定的函数。

6.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于：

所述第一受光部，具有与所述第二受光部同样被分割为多个的受光区域，

所述位置偏差检测部，还具有对来自所述第二受光部的多个信号进行运算，生成焦点方向位置偏差信号或者轨道方向位置偏差信号的位置偏差信号生成部，

所述光盘装置还包括对来自所述第一受光部的多个信号进行与所述位置偏差信号生成部相同的运算的运算部，

所述杂散光检测部，基于来自所述运算部的信号检测所述表面杂散光成分，

所述杂散光修正部，基于由所述杂散光检测部检测出的所述表面杂散光成分，修正从所述位置偏差信号生成部输出的信号。

7.根据权利要求6所述的光盘装置，其特征在于：所述杂散光检测部，通过将来自所述运算部的信号输出输入指定的函数，计算所述表面杂散光成分。

8.根据权利要求7所述的光盘装置，其特征在于：所述指定的函数，是将来自所述运算部的信号输出近似为所述表面杂散光成分的一次函数。

9.根据权利要求8所述的光盘装置，其特征在于，所述光盘装置还包括：

再生信号质量测定部，测定再生记录于所述信息层的信息的再生信号的信号质量；以及

系数推定部，推定所述一次函数中对于来自所述运算部的信号输出的系数，其中，

所述系数推定部，将作为所述系数的候选的多个候选系数设定到所述杂散光检测部，基于设定的各候选系数与设定各候选系数时所得到的来自所述再生信号质量测定部的测定结果的组合，计算最适合的所述系数。