[发明专利]光学测量装置、光学测量系统以及校正用组件有效
申请号: | 201180016464.6 | 申请日: | 2011-10-25 |
公开(公告)号: | CN102821672A | 公开(公告)日: | 2012-12-12 |
发明(设计)人: | 后野和弘 | 申请(专利权)人: | 奥林巴斯医疗株式会社 |
主分类号: | A61B1/00 | 分类号: | A61B1/00 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 测量 装置 系统 以及 校正 组件 | ||
1.一种光学测量装置,具备根据从外部施加的操作力启动电源的开关部,连接至被导入被检体内的测量探头的基端部,输出从上述测量探头的前端照射的照明光,另外接收经由上述测量探头入射的上述照明光的反射光和/或散射光,由此进行光学测量,该光学测量装置的特征在于,具备:
校正用构件,其在利用上述照明光对该光学测量装置和上述测量探头进行校正处理时成为上述照明光的照射对象;
壳体构件,其形成有插入部、容纳部以及开口部,其中,该插入部能够使上述测量探头的前端插入,该容纳部与上述插入部相连通且能够使上述校正用构件沿着上述插入部的贯通方向移动,该开口部与上述容纳部相连通且保持上述开关部中的至少被施加操作力的部分,并且该壳体构件针对上述开关部进行配置,使得当通过从上述插入部插入上述测量探头来使上述校正用构件到达上述容纳部内的规定位置时对上述开关部施加操作力;以及
控制部,在启动了上述电源时该控制部进行开始上述校正处理的控制。
2.根据权利要求1所述的光学测量装置,其特征在于,
上述壳体构件被固定于该光学测量装置的主体。
3.根据权利要求2所述的光学测量装置,其特征在于,
上述壳体构件中,上述插入部与上述校正用构件之间的位置关系能够相对地变更。
4.根据权利要求3所述的光学测量装置,其特征在于,
上述壳体构件具有保持上述测量探头的保持部,
在上述校正处理结束的情况下,上述控制部解除上述保持部对上述测量探头的保持。
5.根据权利要求1所述的光学测量装置,其特征在于,
上述壳体构件自由装卸于该光学测量装置的主体。
6.根据权利要求5所述的光学测量装置,其特征在于,
上述壳体构件中,上述插入部与上述校正用构件之间的位置关系能够相对地变更。
7.根据权利要求6所述的光学测量装置,其特征在于,
上述壳体构件具有保持上述测量探头的保持部,
在上述校正处理结束的情况下,上述控制部解除上述保持部对上述测量探头的保持。
8.一种光学测量系统,其特征在于,具备:
根据权利要求1所述的光学测量装置;以及
自由装卸于上述光学测量装置的上述测量探头。
9.一种光学测量装置,具备检测与从外部施加的操作力相应地被导入被检体内的测量探头的插入的检测部,连接至上述测量探头的基端部,输出从上述测量探头的前端照射的照明光,另外接收经由上述测量探头入射的上述照明光的反射光和/或散射光,由此进行光学测量,该光学测量装置的特征在于,具备:
校正用构件,其在利用上述照明光对该光学测量装置和上述测量探头进行校正处理时成为上述照明光的照射对象;
壳体构件,其形成有插入部、容纳部以及开口部,其中,该插入部能够使上述测量探头的前端插入,该容纳部与上述插入部相连通且能够使上述校正用构件沿着上述插入部的贯通方向移动,该开口部与上述容纳部相连通且保持上述检测部中的至少被施加操作力的部分,并且该壳体构件针对上述检测部进行配置,使得当通过从上述插入部插入上述测量探头使上述校正用构件到达上述容纳部内的规定位置时对上述检测部施加操作力;以及
控制部,在上述检测部检测到插入了上述测量探头的情况下,进行开始上述校正处理的控制,并且进行将上述光学测量装置的状态切换为能够进行上述光学测量的状态的控制。
10.根据权利要求9所述的光学测量装置,其特征在于,
上述壳体构件被固定于该光学测量装置的主体。
11.根据权利要求10所述的光学测量装置,其特征在于,
上述壳体构件中,上述插入部与上述校正用构件之间的位置关系能够相对地变更。
12.根据权利要求11所述的光学测量装置,其特征在于,
上述壳体构件具有保持上述测量探头的保持部,
在上述校正处理结束的情况下,上述控制部解除上述保持部对上述测量探头的保持。
13.根据权利要求9所述的光学测量装置,其特征在于,
上述壳体构件自由装卸于该光学测量装置的主体。
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