[发明专利]图像处理设备、图像处理方法和程序有效

专利信息
申请号: 201180020271.8 申请日: 2011-04-11
公开(公告)号: CN102859993A 公开(公告)日: 2013-01-02
发明(设计)人: 小林刚 申请(专利权)人: 佳能株式会社
主分类号: H04N5/32 分类号: H04N5/32;H04N5/361
代理公司: 北京魏启学律师事务所 11398 代理人: 魏启学
地址: 日本东京都大*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 图像 处理 设备 方法 程序
【说明书】:

技术领域

本发明涉及用于偏移校正处理以从拍摄到的图像数据去除暗电流成分的技术。

背景技术

近年来,随着数字技术的发展,医学X射线摄像所获得的图像的数字化已成为越来越常见的做法。替代已广泛使用的针对X射线诊断而利用胶片所进行的X射线摄像,已开始使用利用平面检测器的X射线摄像设备,其中,在该平面检测器中,将X射线转换为电信号的转换元件二维配置。为了根据从这种X射线摄像设备获得的数字数据(以下称为X射线图像数据)来为诊断提供有价值的数据,将图像处理设备连接至后级以对数据进行诸如检测器特征校正、对数转换和梯度转换等处理是至关重要的。

X射线摄像设备具有如下特征:即使在不使用X射线进行摄像的情况下,由于暗电流而产生的电荷也会累积。因而,除了穿过被摄体的X射线所产生的被摄体信号的电荷成分,还有暗电流所产生的电荷成分被相加至尚未由图像处理设备进行处理的X射线图像数据。暗电流成分可能在图像数据中产生伪影。为了减少暗电流成分的影响,进行在不使用X射线的情况下进行摄像,并且从未处理的X射线图像数据减去所得到的包含有所获得的暗电流成分的偏移校正图像数据的偏移校正处理。

然而,已知暗电流成分依赖于X射线摄像设备的工作温度或摄像时电荷积累的时间而发生波动,难以通过偏移校正处理来完全除去暗电流成分。尤其是在诸如在高温下长期积累的摄像等的、暗电流成分的时间波动增加的摄像条件下,作为针对图像数据中低信号区域进行偏移校正处理的结果,像素值等于或小于零的区域可能包括在测量数据中。由于图像处理设备在后级中进行对数转换时,需要将包含有等于或小于零的像素值的区域替换为合适的正值,因此丢失该区域内的图像信号,从而生成了包含等于或小于零的像素值的区域的形状的伪影。

在这种情况下,已知下述技术,该技术用于通过在将根据已进行偏移校正处理的X射线图像数据的最小值所确定的偏差值相加至整个图像之后进行图像处理来去除等于或小于零的值,从而对由于图像信号丢失所造成的伪影进行抑制(例如,参考日本特开平9-168536)。

然而,上述传统技术仅简单地将根据已进行偏移校正处理的X射线图像数据的最小值所确定的偏差值相加至整个图像。因而,无法将包含图像信息的具有等于或小于零的值的像素与具有突发的低值的像素(噪声成分)区别开来。因此,如果将突发的低值作为偏差值相加至整个图像,则原本由小像素值表示的信号成为不必要的大的值,从而产生动态范围被严重破坏的问题。

引用列表

专利文献

专利文献1:日本特开平9-168536

发明内容

考虑到上述情况而作出本发明,并且本发明的目的在于减少在进行偏移校正处理时所引起的动态范围的劣化。

根据本发明的一方面,为实现上述目的而提供的图像处理设备包括:测量单元,用于测量在基于已穿过被摄体的放射线来拍摄被摄体图像时所使用的摄像条件;计算单元,用于基于所述测量单元所测量出的摄像条件来计算相加值;生成单元,用于基于已穿过所述被摄体的放射线来生成包含所述被摄体图像的图像数据;第一偏移校正单元,用于使用包含暗电流成分的校正图像数据来对所述图像数据进行偏移校正;以及第二偏移校正单元,用于使用所述计算单元所计算出的相加值来对由所述第一偏移校正单元进行了偏移校正的所述图像数据进行偏移校正。

通过以下参考附图对典型实施例的详细说明,本发明的其它特征和方面将变得明显。

附图说明

包含在说明书中并构成说明书一部分的附图示出了本发明的典型实施例、特征和方面,并和说明书一起用来解释本发明的原理。

图1是示出根据第一典型实施例的X射线图像处理系统的概略结构的框图。

图2示出根据第一典型实施例的偏移校正设备的处理流程。

图3示出根据第二典型实施例的偏移校正设备的处理流程。

具体实施方式

以下将参考附图来详细说明本发明的各种典型实施例、特征和方面。

在以下本发明的各典型实施例的说明中,说明了将用于使用作为一种放射线的X射线来拍摄被摄体的X射线图像数据的X射线摄像设备应用为根据本发明的放射线摄像设备的情况。本发明不限于X射线摄像设备,并且可以应用于利用其它放射线(例如,阿尔法射线、贝塔射线及伽马射线)来拍摄被摄体的放射线图像的放射线摄像设备。

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