[发明专利]取向处理方法及取向处理装置有效

专利信息
申请号: 201180020598.5 申请日: 2011-04-15
公开(公告)号: CN102906635A 公开(公告)日: 2013-01-30
发明(设计)人: 梶山康一;新井敏成;水村通伸 申请(专利权)人: 株式会社V技术
主分类号: G02F1/1337 分类号: G02F1/1337;G02F1/13
代理公司: 上海市华诚律师事务所 31210 代理人: 肖华
地址: 日本国神奈*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 取向 处理 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种取向处理方法,其特征在于,

使涂敷了取向膜的基板与具有第一掩模图案组和第二掩模图案组的光掩模靠近对置,并使所述基板在与所述第一及第二掩模图案组交叉的方向上移动,所述第一掩模图案组以一定的排列间距形成了细长状的多个开口,第二掩模图案组与该第一掩模图案组平行地设置,且以与所述多个开口的排列间距相同的间距形成了细长状的多个开口,

对所述光掩模的第一及第二掩模图案组分别照射偏振方向和入射角度当中的至少一个为不同的偏振光,

在所述取向膜上交替地形成取向状态不同的条纹状的第一及第二取向区域。

2.根据权利要求1所述的取向处理方法,其特征在于,

所述光掩模的所述第一掩模图案组是以一定的排列间距在与所述基板的移动方向交叉的方向上形成在所述基板的移动方向上呈细长状的多个开口,

所述第二掩模图案组在所述基板的移动方向上与所述第一掩模图案组间隔一定的距离并与该第一掩模图案组平行地设置,所述第二掩模图案组以与所述多个开口的排列间距相同的间距且在排列方向上错开一半间距地形成在所述基板的移动方向上呈细长状的多个开口,

在与所述基板的移动方向交叉的方向上交替地形成与所述基板的移动方向平行的条纹状的所述第一及第二取向区域。

3.根据权利要求1所述的取向处理方法,其特征在于,所述光掩模的所述第一及第二掩模图案组以一定的排列间距在所述基板的移动方向上分别形成在与所述基板的移动方向交叉的方向上呈细长状的多个开口,且所述第一及第二掩模图案组在所述基板的移动方向上相互间隔所述排列间距的一半间距的整数倍的距离并相互平行地设置,

每当所述基板移动与所述排列间距相等的距离,就间歇性地照射所述偏振光以在所述基板的移动方向上交替地形成与所述基板的移动方向交叉的条纹状的所述第一及第二取向区域。

4.根据权利要求1所述的取向处理方法,其特征在于,对所述光掩模的第一及第二掩模图案组照射的所述各偏振光均为P偏振光,入射角度分别是不同的。

5.根据权利要求1所述的取向处理方法,其特征在于,对所述光掩模的第一及第二掩模图案组照射的所述各偏振光,一束为P偏振光,另一束为S偏振光。

6.一种取向处理装置,其特征在于,包括:

输送单元,其将涂敷了取向膜的基板载置于上表面并使该基板朝一定的方向移动;

掩模台,其对具有第一掩模图案组和第二掩模图案组的光掩模进行保持,所述第一掩模图案组与所述输送单元的上表面对置、并以一定的排列间距形成了细长状的多个开口,第二掩模图案组与该第一掩模图案组平行地设置、并以与所述多个开口的排列间距相同的间距形成了细长状的多个开口;以及

偏振光学系统,其对所述光掩模的所述第一及第二掩模图案组分别照射偏振方向及入射角度当中的至少一个为不同的偏振光,

能够在所述取向膜上交替形成取向状态不同的条纹状的第一及第二取向区域。

7.根据权利要求6所述的取向处理装置,其特征在于,所述光掩模的所述第一掩模图案组以一定的排列间距在与所述基板的移动方向交叉的方向形成在所述基板的移动方向上呈细长状的多个开口,

所述第二掩模图案组在与所述基板的移动方向上与所述第一掩模图案组间隔一定的距离,且与所述第一掩模图案组相平行,所述第二掩模图案组以与所述多个开口的排列间距相同的间距且在排列方向上错开一半间距地形成在所述基板的移动方向上呈细长状的多个开口,

能够在与所述基板的移动方向交叉的方向上交替地形成与所述基板的移动方向平行的条纹状的所述第一及第二取向区域。

8.根据权利要求6所述的取向处理装置,其特征在于,所述光掩模的所述第一及第二掩模图案组分别以一定的排列间距在所述基板的移动方向上形成在与所述基板的移动方向交叉的方向上呈细长状的多个开口,且所述第一及第二掩模图案组在所述基板的移动方向上相互间隔所述排列间距的一半间距的整数倍的距离并相互平行地设置,

每当所述基板移动与所述排列间距相等的距离,就间歇性地照射所述偏振光以能够在所述基板的移动方向上交替地形成与所述基板的移动方向交叉的条纹状的所述第一及第二取向区域。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社V技术,未经株式会社V技术许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201180020598.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top