[发明专利]在长的纺织测试物体中测试规律性定点偏移参数的值无效

专利信息
申请号: 201180021275.8 申请日: 2011-03-18
公开(公告)号: CN102859354A 公开(公告)日: 2013-01-02
发明(设计)人: C·加利克;P·施密特 申请(专利权)人: 乌斯特技术股份公司
主分类号: G01N33/36 分类号: G01N33/36;D01H13/22
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 丁纪铁
地址: 瑞士*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要:
搜索关键词: 纺织 测试 物体 规律性 定点 偏移 参数
【说明书】:

技术领域

本发明属于纺织质量控制领域。如独立权利要求的前述部分所述,本发明涉及用于分析待测细长纺织材料的正则事件的方法和设备。该方法和设备优选地用于纺纱机或绕线机中的清纱器中。

诸如“正则事件”、“正则性”等基本上与“周期事件”或“周期性”同义的术语将用于本说明中。因为比数学上精确的“周期性”提供了更大的自由度,所以前面的术语是优选的,并且因此对纺织品实践更有用。

背景技术

为保证纱线质量,将所谓的清纱器用于纺纱机或绕线机中。这种设备例如从美国专利第5,537,811A号已知。其包括具有至少一个扫描移动的纱线的传感器的测量头。频繁使用的传感器原理是电容式的(例如参见EP-0'924'513A1)或光学式的(例如参见WO-93/13407A1)。其目的是扫描来检测纱线中诸如粗节、细节或杂质的疵点。将传感器的输出信号例如用诸如清除极限的预定的评价标准连续被评价。在美国专利第5,537,811A号中提供了用于清除极限的例子。如果疵点落在清除极限以下,则其可被允许;如果疵点超出清除极限,则其不被允许,并且将从纱线移除疵点,或将其简单记录。疵点可在二维分类域中被分类,其中,沿横坐标记录疵点的长度,并且沿纵坐标记录疵点的幅度(从设定值偏移的每长度纱线的质量、纱线横截面、纱线反射率等)。已在US-5,537,811A和2006年11月乌斯特技术公司(Uster Technologies AG)的QUANTUM 2应用手册卷的3.2.4节“分类值”中描述了这种分类图的例子。

然而,有些纱疵还有干扰,如果它们落在清除极限以下时:周期性的纱疵。这些纱疵是通常在相同距离出现的粗节或细节。不期望发生周期性的纱疵,因为它们可以在编织物或针织物中引发莫尔效应。它们在纺纱过程中产生,当导纱器元件有故障时,例如环锭纺纱机中的非圆形的前圆筒。

由于存在电子清纱器,人们致力于将其也用来检测周期性纱疵。其一方面为了通过移除周期性纱疵来增加纱线质量,另一方面为了得出产生了不期望的周期的有故障的元件的结论。美国专利第2,950,435 A号提供了这种努力的较早的例子。该说明和诸如US-5,592,849 A或EP-2'090'538A2更新的说明通过傅里叶变换将清纱器的时间-相关(或位置-相关)的输出信号转换为时间-频率域(或空间频率域)。以时间-频率域(或空间频率域)表示的具有大幅值的频率表示周期性纱疵,然而,其余频率的幅值用来测量非周期的纱线不匀率。根据DE-39’28'417 A1,纱疵的分类以及通过傅里叶变换发现正则纱疵相互独立实现。尽管这种使用傅里叶变换的方法允许结果存在周期性的纱疵,但不能在生产过程(在线)期间移除纱疵。

申请人的清纱器QUANTUM 2使用了不同的方法,已在2006年11月乌斯特技术公司(Uster Technologies AG)的QUANTUM2 Application Manual Winding应用手册卷的第6章“周期性的纱疵”中描述了该方法。其没有离开时间域(或空间域),并且允许从被称为“珠式链”的纱线在线移除周期性的纱疵。清纱器包括用于该用途的所谓的珠式链通道。为了在珠式链通道中引起纱剪,需要满足以下四个标准:

灵敏度%=最小纱疵尺寸;

长度cm=最小纱疵长度;

疵点距离cm=纱疵到纱疵的距离,以及

疵点数量=将要切除的疵点的数量。

分别位于等号右侧的四个阈值需要由用户预定。该方法将全部周期性的纱疵聚合在一起,其仅由分类域中的最小纱疵尺寸和最小纱线长度进行限定。其不允许不同的周期性的纱疵之间的任何差异。此外,其假设有时不存在的、与所收集的周期性的纱疵有关的信息,例如,疵点距离。

WO-2007/056883A2公开了用于表征花式纱线的方法。花式纱线基本上是具有有意产生的厚段(所谓的粗纱)和插入的基纱的序列的的纱线。序列不需要是规律的;在任何情况下,应避免精确的周期性,因为其导致织物的莫尔效应。根据WO-2007/056883A2的一个实施方式,沿花式纱线记录的测量值可以被分成仅表示效应的第一理想化曲线和仅表示无效应的有效基纱的第二曲线。将两条曲线进行傅里叶变换,通过该变换产生只有效应的第一光谱图和基纱的第二光谱图。将该方法用于纱线实验室中的随机采样,并且适用于在纺纱过程中的粗纱或疵点产生的干扰的随后定位。该方法不适用于在线检测正则事件,诸如在绕线机上清纱的期间。

发明内容

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