[发明专利]磁共振成像装置及高频磁场脉冲的调制方法无效

专利信息
申请号: 201180025396.X 申请日: 2011-05-11
公开(公告)号: CN102905617A 公开(公告)日: 2013-01-30
发明(设计)人: 阿部贵之 申请(专利权)人: 株式会社日立医疗器械
主分类号: A61B5/055 分类号: A61B5/055
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 齐秀凤
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 磁共振 成像 装置 高频 磁场 脉冲 调制 方法
【权利要求书】:

1.一种磁共振成像装置,包括:

倾斜磁场产生部;

产生高频磁场脉冲的发送部;

接收来自被检测体的磁共振信号的接收部;以及

基于摄像脉冲序列来控制所述倾斜磁场产生部、发送部、以及接收部的控制部,

所述摄像脉冲序列包括第一测量序列和第二测量序列,所述第一测量序列使用与在所述第二测量序列中使用的切片选择倾斜磁场脉冲相同的切片选择倾斜磁场脉冲,

所述控制部包括高频磁场脉冲计算部,该高频磁场脉冲计算部使用在所述第一测量序列中测量出的磁共振信号来计算由所述发送部产生的高频磁场脉冲的波形,所述控制部对所述发送部进行控制,以便在所述第二测量序列中将由所述高频磁场脉冲计算部计算出的波形的高频磁场脉冲与所述切片选择倾斜磁场脉冲一并进行施加。

2.根据权利要求1所述的磁共振成像装置,其特征在于,

所述第一测量序列是通过在与所述切片选择倾斜磁场相同的轴上施加读出倾斜磁场脉冲来收集回波信号的序列。

3.根据权利要求2所述的磁共振成像装置,其特征在于,

所述控制部计算在所述第一测量序列中测量出的磁共振信号的相位分布,在时间方向上对该相位分布进行微分,使用微分后的分布来对高频磁场脉冲进行调制。

4.根据权利要求1所述的磁共振成像装置,其特征在于,

在所述第一以及第二测量序列中使用的切片选择倾斜磁场是在所述高频磁场脉冲的施加中强度发生变化的切片选择倾斜磁场。

5.根据权利要求4所述的磁共振成像装置,其特征在于,

在所述第一以及第二测量序列中使用的切片选择倾斜磁场具有大致梯形的分布,该大致梯形的分布具有上升时间以及下降时间,

所述控制部在包含该切片选择倾斜磁场的上升时间以及/或者下降时间在内的切片选择倾斜磁场施加中施加所述高频磁场脉冲。

6.根据权利要求1所述的磁共振成像装置,其特征在于,

所述第一以及第二测量序列的高频磁场脉冲是时间轴方向的形状为非对称形状的高频磁场脉冲。

7.根据权利要求6所述的磁共振成像装置,其特征在于,

所述第一以及第二测量序列的高频磁场脉冲是将相对于时间轴方向的一点呈对称的高频磁场脉冲变为一半而得到的非对称高频磁场脉冲。

8.根据权利要求1所述的磁共振成像装置,其特征在于,

所述摄像脉冲序列包含切片选择倾斜磁场的施加条件不同的多个第二测量序列,

每次在所述第二测量序列的切片选择倾斜磁场的施加条件被变更时,所述控制部先于变更来进行所述第一测量序列的执行和高频磁场脉冲的波形的计算。

9.根据权利要求3所述的磁共振成像装置,其特征在于,

所述控制部将作为基础的高频磁场脉冲与所述相位分布的时间轴相匹配地进行尺度变换。

10.一种对磁共振成像装置的激发用高频磁场脉冲进行调制的方法,包括:

施加第一高频磁场脉冲和第一切片倾斜磁场脉冲,根据通过施加与所述第一切片倾斜磁场脉冲相同的轴的读出倾斜磁场而产生的回波信号来计算相位分布的步骤;

在时间轴方向上对计算出的相位分布进行微分的步骤;以及

使用微分后的分布来对和与所述第一切片倾斜磁场脉冲相同的第二切片倾斜磁场脉冲一并施加的第二高频磁场脉冲进行调制的步骤。

11.根据权利要求10所述的高频磁场脉冲的调制方法,其特征在于,

所述进行调制的步骤包括:将作为基础的高频磁场脉冲与所述相位分布的时间轴相匹配地进行尺度变换的步骤。

12.根据权利要求10所述的高频磁场脉冲的调制方法,其特征在于,

所述第一以及第二切片倾斜磁场脉冲是在高频磁场脉冲施加中强度发生变化的脉冲。

13.根据权利要求10所述的高频磁场脉冲的调制方法,其特征在于,

所述第一以及第二高频磁场脉冲是将相对于时间轴方向的一点呈对称的高频磁场脉冲变为一半而得到的非对称高频磁场脉冲。

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