[发明专利]光学设备用遮光部件有效

专利信息
申请号: 201180028318.5 申请日: 2011-06-29
公开(公告)号: CN102933988A 公开(公告)日: 2013-02-13
发明(设计)人: 堀川晃;原田正裕 申请(专利权)人: 木本股份有限公司
主分类号: G02B5/00 分类号: G02B5/00;B32B7/02;B32B27/00;B32B27/18;C08J7/04;C08K3/04;C08L101/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 张玉玲
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 光学 备用 遮光 部件
【说明书】:

技术领域

本发明涉及可以用于各种光学设备的快门、光圈部件等中的光学设备用遮光部件。

背景技术

近年来,由于对高性能单反式照相机、小型照相机、摄像机等各种光学设备的小型化、轻量化的要求,通过金属材料形成的光学设备的快门或光圈部件逐渐被塑料材料替代。作为这样的塑料材料的光圈,已知有在薄膜基材上形成含有炭黑、润滑剂、微粒及粘合剂树脂的遮光膜的遮光性薄膜(专利文献1、2)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本特开平9-274218号公报

专利文献2:WO2006/016555号公报

发明内容

发明所要解决的问题

上述的遮光性薄膜由于与由金属材料形成的遮光部件相比硬挺度极其弱,所以若使用该遮光性薄膜作为光学设备的快门或光圈部件则不耐用,产生由与其它部件的接触部位产生变形,发生变形或破损的问题。这样的问题在要求薄型化的近年的状况下可以说是重大课题。

为了解决该问题,考虑了使遮光膜中含有高弹性的粒子的设计,但由于在所述情况下,使构成遮光膜的其它材料的相对的含有比例减少,所以阻碍了作为遮光部件的遮光性、光滑性等性能平衡。

另一方面,还考虑了使由金属材料形成的遮光部件直接薄型化的方法,但若使用该遮光部件作为快门或光圈部件,则容易由于与其它部件的接触而产生变形。由于所述变形在金属材料的性质上不会恢复原样,所以在这样的遮光部件中不好用。此外,金属材料与塑料材料相比,成本相当高。

这样,要求在不使用金属材料的情况下即使薄型化也具有硬挺度、不易产生薄膜的破损等的光学设备用遮光部件。

用于解决问题的方案

本发明者们针对该问题,发现通过制成在遮光膜中包含作为粘合剂树脂的羟值为100(mgKOH/g)以上的粘合剂树脂、和平均粒径为1~10μm的树脂粒子的遮光部件,能够得到即使薄型化也具有硬挺度、即使与其它部件接触也不易产生薄膜的破损等的遮光部件,从而完成本发明。

即,本发明的光学设备用遮光部件,其特征在于,其是包含由合成树脂薄膜构成的基材、和形成于上述基材的至少单面上的遮光膜的光学设备用遮光部件,上述遮光膜含有羟值为100(mgKOH/g)以上的粘合剂树脂、炭黑、无机粒子、及平均粒径为1~10μm的树脂粒子。

此外,本发明的光学设备用遮光部件中,优选树脂粒子为交联聚甲基丙烯酸甲酯粒子。

此外,本发明的光学设备用遮光部件中,优选相对于粘合剂树脂100重量份,含有20~150重量份的树脂粒子。

发明的效果

根据上述发明,通过使遮光膜中含有羟值为100(mgKOH/g)以上的粘合剂树脂及平均粒径为1~10μm的树脂粒子,能够制成即使薄型化也具有硬挺度、不易产生薄膜的破损等的遮光部件。

附图说明

图1是说明用于测定光学设备用遮光部件的硬挺度的测定装置的图。

具体实施方式

以下,对本发明的光学设备用遮光部件(以下,有时也称为“遮光部件”)的实施方式进行说明。

本发明的遮光部件包含由合成树脂薄膜构成的基材、和形成于上述基材的至少单面上的遮光膜。该遮光膜含有羟值为100(mgKOH/g)以上的粘合剂树脂、炭黑、无机粒子、及平均粒径为1~10μm的树脂粒子。

另外,本发明中所谓的平均粒径是指用激光衍射式粒度分布测定装置(例如、岛津制作所社:SALD-7000等)测定的中值粒径(D50)。

作为由合成树脂薄膜构成的基材,可列举出由聚酯、ABS(丙烯腈-丁二烯-苯乙烯)、聚酰亚胺、聚苯乙烯、聚碳酸酯、丙烯酸、聚烯烃、纤维素树脂、聚砜、聚苯硫醚、聚醚砜、聚醚醚酮等构成的基材。尤其适宜使用聚酯薄膜,经拉伸加工、特别是双轴拉伸加工的聚酯薄膜从机械强度、尺寸稳定性优异的方面考虑特别优选。

此外,作为基材,透明的基材当然可以使用,也可以使用发泡聚酯薄膜、含有炭黑等黑色颜料或其它颜料的合成树脂薄膜。这种情况下,上述的基材可以根据各自的用途选择适合的基材。例如,作为遮光部件使用时,由于在部件截面的合成树脂薄膜部分中被透镜等聚光的光发生反射而造成不良影响,所以在需要高遮光性的情况下,可以使用含炭黑等黑色颜料的合成树脂薄膜,在其它的情况下,可以使用透明或发泡的合成树脂薄膜。

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