[发明专利]用于校准具有CCD阵列的分光仪的方法

权利要求书

1.一种用于对由CCD阵列所构造的分光仪进行校准的方法，其中通过所述CCD阵列来记录第一校准光谱和第二校准光谱，其中，为了生成这些校准光谱而对参考结构进行照明，所述参考结构关于由其射出的光的出射深度明显不同。

2.按照权利要求1所述的方法，其特征在于，由这两个校准光谱来确定校正系统，通过所述校正系统来对分别应用的CCD阵列的记录信号各自进行标准化。

3.按照权利要求2所述的方法，其特征在于，将所述校正系统作为特性曲线族或者参数化的校正函数存储在相应的分光仪的控制单元中。

4.按照权利要求3所述的方法，其特征在于，针对特定的物质生成多个校正系统。

5.按照权利要求1至4中至少一项所述的方法，其特征在于，为测量所选择的组织内含物质或者血液内含物质分别采用优化的校正系统。

6.按照权利要求1至5中至少一项所述的方法，其特征在于，通过这些在分析步骤的范围内获取所接收的光的原始深度的深度信息。

7.按照权利要求1至6中至少一项所述的方法，其特征在于，依据该深度信息进一步调调谐所述校正系统。

8.按照权利要求1至7中至少一项所述的方法，其特征在于，通过使用多个参考样本来生成多个校正系统，在所述参考样本中以不同的浓度包含物质参考。

9.一种用于对由CCD阵列所构造的分光仪进行校准的方法，其中通过所述CCD阵列来记录来自参考容积辐射体的光谱，其中，依据在此所记录的原始数据生成描述在此出现的标准化效应的函数，并且其中，将该函数作为用于来自容积辐射体的测量的校正函数存储到分光仪中。