[发明专利]自动分析装置及自动分析方法

权利要求书

1.一种自动分析装置，将来自光源的光照射至容纳有试料的反应容器，由光检测单元检测通过了上述反应容器的光，并由运算处理部基于检测出的光来分析上述反应容器内的试料，所述自动分析装置的特征在于，

上述检测单元具有以相对于光源呈不同的角度所设置的多个光检测元件，上述运算处理部基于从上述多个检测元件中选出的一个检测元件的测量信号来计算基准数据，计算上述选出的一个检测元件的测量信号相对于计算出的基准数据的变动率，基于计算出的变动率，校正与上述选出的一个检测元件不同的检测元件的测量信号，并基于校正后的测量信号来分析上述试料。

2.根据权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于，

上述检测元件的多个测量信号是检测时刻彼此不同的多个测量信号，上述运算处理部基于上述选出的一个检测元件的多个测量信号来计算基准数据，计算上述选出的一个检测元件的多个测量信号分别相对于计算出的基准数据的变动率，基于计算出的变动率，校正与上述选出的一个检测元件不同的检测元件的多个测量信号，并基于校正后的测量信号来分析上述试料。

3.根据权利要求2所述的自动分析装置，其特征在于，

上述检测元件的多个测量信号是基于彼此不同的检测时刻而检测出的信号。

4.根据权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于，

上述检测单元的多个检测元件二维地排列。

5.根据权利要求2所述的自动分析装置，其特征在于，

上述基准数据是根据上述选出的一个检测元件的多个测量信号而计算出的近似式，上述运算处理部将在计算出的近似式中得到的信号值除以通过上述近似式而得到的信号值来计算变动率，并将与上述选出的一个检测元件不同的检测元件的多个测量信号除以计算出的变动率来进行校正。

6.根据权利要求5所述的自动分析装置，其特征在于，

上述近似式是对根据选出的一个检测元件的测量信号中的不同的2个测量信号而决定的直线进行表示的直线式。

7.根据权利要求5所述的自动分析装置，其特征在于，

上述近似式是通过最小二乘法而计算出的直线式。

8.根据权利要求5所述的自动分析装置，其特征在于，

具备选择单元，该选择单元对上述近似式是多项近似式还是2点间直线中的哪一个进行选择。

9.根据权利要求5所述的自动分析装置，其特征在于，

具备选择单元，该选择单元选择对上述近似式进行运算的区间。

10.根据权利要求5所述的自动分析装置，其特征在于，

具备选择单元，该选择单元对将上述多个检测元件中的哪一个是作为在近似式计算中使用的检测元件、还是作为在基于变动率的校正中使用的检测元件进行选择。

11.根据权利要求8所述的自动分析装置，其特征在于，

上述选择单元是对选择项目进行显示的显示画面。

12.一种自动分析方法，将来自光源的光照射至容纳有试料的反应容器，检测通过了上述反应容器的光，并基于检测出的光来分析上述反应容器内的试料，所述自动分析方法的特征在于，

由以相对于光源呈不同的角度所设置的多个光检测元件来对通过了上述反应容器的光进行检测，基于从上述多个检测元件中选出的一个检测元件的测量信号来计算基准数据，计算上述选出的一个检测元件的测量信号相对于计算出的基准数据的变动率，基于计算出的变动率，校正与上述选出的一个检测元件不同的检测元件的测量信号，并基于校正后的测量信号来分析上述试料。

13.根据权利要求12所述的自动分析方法，其特征在于，

上述多个检测元件的测量信号是检测时刻彼此不同的多个测量信号，基于上述选出的一个检测元件的多个测量信号来计算基准数据，计算上述选出的一个检测元件的多个测量信号分别相对于计算出的基准数据的变动率，基于计算出的变动率，校正与上述选出的一个检测元件不同的检测元件的多个测量信号，并基于校正后的测量信号来分析上述试料。

14.根据权利要求13所述的自动分析方法，其特征在于，

上述多个检测元件的测量信号是基于彼此不同的检测时刻而检测出的信号。