[发明专利]扩散剂组合物及杂质扩散层的形成方法有效
申请号: | 201180033476.X | 申请日: | 2011-07-06 |
公开(公告)号: | CN102986004A | 公开(公告)日: | 2013-03-20 |
发明(设计)人: | 森田敏郎;神园乔;宫城忠 | 申请(专利权)人: | 东京应化工业株式会社 |
主分类号: | H01L21/225 | 分类号: | H01L21/225;H01L31/04 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 蒋亭 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 扩散 组合 杂质 形成 方法 | ||
1.一种扩散剂组合物,其特征在于,其是用于向半导体基板扩散掺杂剂成分的扩散剂组合物,其含有:
硅化合物(A)、
掺杂剂成分(B)、和
非掺杂剂金属成分(C),
其中,作为所述非掺杂剂金属成分(C)而含有的Na的含量相对于组合物整体小于60ppb。
2.根据权利要求1所述的扩散剂组合物,其中,所述掺杂剂成分(B)含有III族元素或V族元素的化合物。
3.根据权利要求1或2所述的扩散剂组合物,其中,所述硅化合物(A)是选自SiO2微粒、及将下述通式(1)表示的烷氧基硅烷水解而得到的反应产物中的至少1种,
式(1)中,R1为氢原子、烷基、或芳基,R2为烷基或芳基,m表示0、1、或2的整数,存在多个R1时,多个R1可以相同也可以不同,存在多个(OR2)时,多个(OR2)可以相同也可以不同。
4.根据权利要求1所述的扩散剂组合物,其还含有表面活性剂(D)。
5.根据权利要求1所述的扩散剂组合物,其还含有溶剂成分(E)。
6.一种杂质扩散层的形成方法,其特征在于,包括以下工序:
在半导体基板上涂布权利要求1所述的扩散剂组合物而形成扩散层的工序;和
使所述扩散剂组合物的掺杂剂成分(B)扩散到所述半导体基板中的扩散工序。
7.根据权利要求6所述的杂质扩散层的形成方法,其中,所述扩散层的形成工序包括印刷扩散剂组合物而形成图案的图案形成工序。
8.根据权利要求6或7所述的杂质扩散层的形成方法,其中,所述半导体基板被用于太阳能电池。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造