[发明专利]具有用于对对齐特征进行成像的专用透镜的本体有效

专利信息
申请号: 201180037631.5 申请日: 2011-07-26
公开(公告)号: CN103038685A 公开(公告)日: 2013-04-10
发明(设计)人: L.卡斯塔纳;R.D.米勒;D.E.吉利斯;D.E.德林杰 申请(专利权)人: 泰科电子公司
主分类号: G02B6/42 分类号: G02B6/42
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 吴艳
地址: 美国宾夕*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 具有 用于 对齐 特征 进行 成像 专用 透镜 本体
【权利要求书】:

1.一种透镜本体(10),用于将来自支撑在基底(70)上的至少一个光源的光聚焦到对应的光纤中,所述透镜本体包括:

光学透明的可模制材料的本体(12),包括至少以下特征:

用于支撑至少一条光纤(120)的端口(14),所述端口包括:定位成当所述光纤被支撑在所述端口中时与所述光纤进行接口的接触表面(16);

有源透镜(24),适用于与相应的光源光学协作,以将光沿所述光源与对应的光纤(120)之间的相应光路进行聚焦;

限定出观察表面(42)的至少一个对齐结构(40);和

至少一个专用透镜(50),定位在光源与对应的光纤(120)之间的任何光路之外,且适用于将所述基底(70)上的对齐特征(74)的图像聚焦到所述观察表面(42)上。

2.如权利要求1所述的透镜本体,还包括:

至少一个反射表面(80),沿一个或多个光路设置,以改变各光源与它的对应的光纤(120)之间的光路的方向。

3.如权利要求1所述的透镜本体,其中,所述有源透镜(24)和所述专用透镜(50)构造成具有大致相同的焦距。

4.如权利要求3所述的透镜本体,其中,所述观察表面(42)定位在所述本体(12)上,使得所述有源透镜(24)与所述接触表面(16)之间的光路长度大致等于所述专用透镜(50)与所述观察表面(42)之间的光路长度。

5.如权利要求1所述的透镜本体,其中,所述透镜本体包括多个有源透镜(24)。

6.如权利要求5所述的透镜本体,其中,所述本体包括:至少一对专用透镜(50)、和对应的多个对齐结构(40),所述多个对齐结构中的每一个具有相应的观察表面(42)。

7.如权利要求6所述的透镜本体,其中,所述多个有源透镜(24)和所述多个专用透镜(50)布置成单个线性阵列。

8.如权利要求7所述的透镜本体,其中,所有所述多个有源透镜(24)在所述单个线性阵列内定位在所述一对专用透镜(50)之间。

9.如权利要求1所述的透镜本体,其中,所述对齐结构(40)在所述本体(12)中毗邻大致平面型观察表面(42)限定出具有倒截头圆锥形状的空穴(46)。

10.如权利要求1所述的透镜本体,其中,所述一对专用透镜(50)中的每一个与各相应的观察表面(42)之间的光路是线性的,且不穿过所述反射表面(80)。

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