[发明专利]利用改善的采样的微分相位对比成像

权利要求书

1.一种用于相位对比成像的格栅装置（40），包括：

第一格栅元件G₁（24）；

第二格栅元件G₂（26）；并且

其中，所述第一格栅元件（24）和所述第二格栅元件（26）中的至少一个包括：具有第一格栅跨度p₁、q₁的第一面积A₁，以及具有与所述第一格栅跨度p₁、q₁不同的第二格栅跨度p₂、q₂的第二面积A₂。

2.根据前述权利要求所述的格栅装置，还包括：

X射线探测器元件（6），其包括多个探测器像素元件（8），每个探测器像素元件（8）具有像素面积A；

其中，所述第一面积A₁和所述第二面积A₂相邻布置；并且

其中，所述第一面积A₁和所述第二面积A₂的大小对应于单个探测器像素元件（8）的所述像素面积A。

3.根据前述权利要求中的至少一项所述的格栅装置，其中，所述第一面积和所述第二面积具有相似的大小。

4.根据前述权利要求中的至少一项所述的格栅装置，其中，所述第一格栅元件（24）和所述第二格栅元件（26）中的至少一个包括针对每个像素元件的：具有所述第一格栅跨度p₁、q₁的所述第一面积，以及具有与所述第一格栅跨度p₁、q₁不同的所述第二格栅跨度p₂、q₂的所述第二面积。

5.一种用于相位对比成像的设备（38），包括：

X射线源（4）；以及

根据权利要求1至4中的一项所述的格栅装置（40）；

其中，待成像的对象（14）能够被布置在所述X射线源（4）与所述X射线探测器元件（6）之间；

其中，所述第一格栅元件（24）和所述第二格栅元件（26）能够被布置在所述X射线源（4）与所述X射线探测器元件（6）之间；

其中，所述X射线源（4）、所述第一格栅元件（24）、所述第二格栅元件（26）和所述X射线探测器元件（6）操作地耦合以用于所述对象（14）的相位对比图像的采集。

6.根据前述权利要求所述的设备，

其中，所述X射线源（4）适于发射具有限定波长的设计能量水平的X射线辐射（20）；

其中，所述第一格栅元件（24）和所述第二格栅元件（26）被间隔开距离d；

其中，距离d对应于所述限定波长的所述第一格栅跨度p₁和所述第二格栅跨度p₂中的一个的分数Talbot距离。

7.根据前述权利要求所述的设备，

其中，所述距离d对应于针对所述第一格栅跨度p₁和所述第二格栅跨度p₂两者的分数Talbot距离。