[发明专利]阴极体、荧光管、以及阴极体的制造方法无效

专利信息
申请号: 201180042487.4 申请日: 2011-08-30
公开(公告)号: CN103081056A 公开(公告)日: 2013-05-01
发明(设计)人: 大见忠弘;后藤哲也;石井秀和 申请(专利权)人: 国立大学法人东北大学
主分类号: H01J61/06 分类号: H01J61/06;H01J9/02
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;李茂家
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 阴极 荧光 以及 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种阴极体,其特征在于,其具有:

基体;

设置在所述基体的表面的具有SiC的阻挡层;

形成在所述阻挡层的表面的具有稀土元素的硼化物的膜。

2.根据权利要求1所述的阴极体,其特征在于,所述基体是钨、钼、硅,或者是含有选自由La2O3、ThO2和Y2O3组成的组中的至少一种的钨或钼。

3.根据权利要求1或2所述的阴极体,其特征在于,所述稀土元素的硼化物包含选自由LaB4、LaB6、YbB6、GaB6、CeB6组成的组中的至少一种硼化物。

4.根据权利要求3所述的阴极体,其特征在于,所选择的至少一种所述稀土元素的硼化物是LaB6

5.根据权利要求4所述的阴极体,其特征在于,所述基体是钨、或者是含有以体积比计为4~6%的La2O3的钨。

6.一种荧光管,其使用了权利要求1~5中任一项所述的阴极体作为阴极。

7.一种阴极体的制造方法,其特征在于,其具有:

工序(a),在基体表面形成具有SiC的阻挡层;以及

工序(b),在所述阻挡层上形成具有稀土元素的硼化物的膜。

8.根据权利要求7所述的阴极体的制造方法,其特征在于,所述工序(a)是采用CVD或溅射在基体的表面上形成所述阻挡层的工序。

9.根据权利要求7或8所述的阴极体的制造方法,其特征在于,所述工序(b)是采用溅射在所述阻挡层上形成LaB6膜的工序。

10.根据权利要求7~9中任一项所述的阴极体的制造方法,其特征在于,所述基体是钨、钼、硅、含有4~6重量%的氧化镧的钨或钼。

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