[发明专利]阴极体、荧光管、以及阴极体的制造方法无效
申请号: | 201180042487.4 | 申请日: | 2011-08-30 |
公开(公告)号: | CN103081056A | 公开(公告)日: | 2013-05-01 |
发明(设计)人: | 大见忠弘;后藤哲也;石井秀和 | 申请(专利权)人: | 国立大学法人东北大学 |
主分类号: | H01J61/06 | 分类号: | H01J61/06;H01J9/02 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;李茂家 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 阴极 荧光 以及 制造 方法 | ||
1.一种阴极体,其特征在于,其具有:
基体;
设置在所述基体的表面的具有SiC的阻挡层;
形成在所述阻挡层的表面的具有稀土元素的硼化物的膜。
2.根据权利要求1所述的阴极体,其特征在于,所述基体是钨、钼、硅,或者是含有选自由La2O3、ThO2和Y2O3组成的组中的至少一种的钨或钼。
3.根据权利要求1或2所述的阴极体,其特征在于,所述稀土元素的硼化物包含选自由LaB4、LaB6、YbB6、GaB6、CeB6组成的组中的至少一种硼化物。
4.根据权利要求3所述的阴极体,其特征在于,所选择的至少一种所述稀土元素的硼化物是LaB6。
5.根据权利要求4所述的阴极体,其特征在于,所述基体是钨、或者是含有以体积比计为4~6%的La2O3的钨。
6.一种荧光管,其使用了权利要求1~5中任一项所述的阴极体作为阴极。
7.一种阴极体的制造方法,其特征在于,其具有:
工序(a),在基体表面形成具有SiC的阻挡层;以及
工序(b),在所述阻挡层上形成具有稀土元素的硼化物的膜。
8.根据权利要求7所述的阴极体的制造方法,其特征在于,所述工序(a)是采用CVD或溅射在基体的表面上形成所述阻挡层的工序。
9.根据权利要求7或8所述的阴极体的制造方法,其特征在于,所述工序(b)是采用溅射在所述阻挡层上形成LaB6膜的工序。
10.根据权利要求7~9中任一项所述的阴极体的制造方法,其特征在于,所述基体是钨、钼、硅、含有4~6重量%的氧化镧的钨或钼。
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