[发明专利]X射线管电弧放电运转

权利要求书

1.一种方法，包括：

识别在X射线管电弧放电事件期间生成的投影数据；

针对所识别的投影数据的数据点确定X射线管电压；

基于针对所识别的数据点确定的X射线管电压校正所述数据点；以及

重建投影数据，所述投影数据包括在非X射线管电弧放电事件期间生成的投影数据和经校正的投影数据。

2.如权利要求1所述的方法，还包括：

将针对数据点确定的X射线管电压和预定校正阈值电压进行比较；

确定所确定的X射线管电压是否满足所述预定校正阈值电压；以及

响应于所述管电压满足所述预定校正阈值电压，校正所述数据点。

3.如权利要求2所述的方法，还包括：

响应于所述管电压不满足所述预定校正阈值电压，使用导出的数据点替换所述数据点。

4.如权利要求2至3中任一项所述的方法，其中，所述预定校正阈值电压是大约60kV或者扫描发射电压的标称电压的60%。

5.如权利要求1至4中任一项所述的方法，还包括：

（a）使用第一探测器探测未被阻挡的辐射；

（b）同时使用第二探测器探测未被阻挡的辐射，其中，所述第二探测器包括具有己知厚度和谱特性的滤波器材料；

（c）确定来自所述第一探测器的输出数据与来自所述第二探测器的输出数据的比率；

针对多个己知管电压执行（a）-（c）；以及

根据管电压生成所述比率和所述管电压之间的映射；

其中，针对所述数据点确定所述X射线管电压包括基于所述映射确定所述X射线管电压。

6.如权利要求5所述的方法，还包括：

确定针对所述数据点的比率；以及

基于所确定的比率和所述映射确定针对所述数据点的所述X射线管电压。

7.如权利要求5至6中任一项所述的方法，其中，所述映射存储在查找表中。

8.如权利要求5至6中任一项所述的方法，其中，所述映射被表达为多项式。

9.如权利要求5至8中任一项所述的方法，其中，所述数据点根据确定的管电压和所述滤波器材料的厚度被校正。

10.如权利要求5至9中任一项所述的方法，其中，基于以下变换校正所述数据点，其中，kV是所确定的X射线管电压，并且a、b和c是未知常数：

11.一种系统，包括：

投影数据处理器（116），所述投影数据处理器（116）对与在X射线管电弧放电事件期间采集的数据对应的投影数据进行校正。

12.如权利要求11所述的系统，所述投影数据处理器，包括：

管电弧放电识别器（204），其识别与在所述X射线管电弧放电事件期间采集的所述数据对应的一组或多组所述投影数据。

13.如权利要求12所述的系统，所述投影数据处理器，包括：

管电压确定器（206），其针对所识别的一组或多组中的数据点分别确定X射线管电压。

14.如权利要求13所述的系统，所述投影数据处理器，包括：

投影数据校正（208），其基于相应的所确定的X射线管电压至少校正所述数据点的子集。

15.如权利要求14所述的系统，其中，没有被校正的数据点被内插数据点替代。

16.如权利要求14所述的系统，其中，所述投影数据校正在时间上后退地以从所述数据点的最后一个到所述数据点的第一个的方向校正所述数据点。

17.如权利要求14所述的系统，其中，所述投影数据校正基于采集时间顺序地校正所述数据点。

18.如权利要求14至17中任一项所述的系统，其中，基于以下变换校正所述数据点，其中，kV是所确定的X射线管电压，并且a、b和c是未知常数，常数a、b和c通过使用μ_校正的不同己知值的联立方程来求解：

19.如权利要求11至18中任一项所述的系统，其中，重建投影数据的集合以生成体积图像数据，所述投影数据的集合包括在非X射线管电弧放电事件期间生成的投影数据和经校正的投影数据。

20.一种校正在X射线管电弧放电期间收集的数据的方法，包括：

识别所述管电弧放电；

建立X射线衰减值和X射线管电压之间的关系；

确定所述管电弧放电期间的不同时间段处的一个或多个X射线管电压；以及

使用所述关系针对所述X射线管电弧放电期间的X射线衰减值确定校正值。