[发明专利]激光测量系统

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于在沿水平方向矫平（level）地表面、设置倾斜梯度或者为铺设陶制管而设置梯度的情况下形成基准平面和基准线的激光测量系统。

背景技术

在土木工程工作、建筑工作等中要应用的激光测量系统在很大范围的领域中使用和操作，例如，激光测量系统用于室外条件或用于室内条件或用于寒冷气候区域或用于高温高湿区域。另外，当测量系统可能在操作期间掉落时或者当系统可能在操作和使用期间被碰撞或者可能落下时，可能对激光测量系统产生很大冲击。

当激光测量系统未在正常条件下操作时，存在各种故障的原因。这些原因包括例如：激光测量系统自身中的异常或故障的情况、或者由于使用条件的突然变化导致的暂时操作异常的情况、激光测量系统未被合适地安装的情况、或者未在使激光测量系统在正常条件下操作的条件下使用该测量系统的情况(例如，当激光测量系统被安装在发生振动或摇晃的地方)。另外，即使当这由激光测量系统自身的异常或故障引起时，也可能存在构成激光测量系统的零件随着时间的劣化的情况、或者来自外部的强烈冲击(诸如，落下)的情况、或者由在高温条件下使用导致的热劣化的情况。

在以前，当操作异常发生在激光测量系统上时，在操作现场办公室调查操作异常的原因，并且当在操作现场办公室未识别原因时，所讨论的激光测量系统通常被发送到维修站。然后，在维修站调查操作异常的原因。如果在维修站不能识别原因，则激光测量系统被进一步运输到制造工厂的技术部门，并且调查原因，并且采取合适的措施以校正操作异常。

因此，当在初始阶段(诸如，在操作现场办公室的调查)中弄清楚操作异常的原因时，能够高效地校正异常。然而，当在制造工厂的技术部门调查故障的原因时，激光测量系统必须每次被运输，并且必须每次调查故障的原因。因此，需要很多时间和很多天。另外，因为必须每次在每个部门调查故障的原因并且对于每个操作员而言需要高技能和训练，所以涉及很多时间和成本。

为了解决如上所述的问题，本发明的目的在于提供一种激光测量系统以使得能够以简单的方式识别操作异常的原因。

现有技术参考

[专利文档1] 专利公开JP-A-2004-144681。

发明内容

本发明涉及一种激光测量系统，包括：矫平单元，具有用于矫平的电机；光源单元，用于发射激光束；光投影光学系统，安装在矫平单元上并用于投影激光束；电源单元，用于把电力提供给每个部件位置；控制单元，用于驱动并控制每个部件位置；存储单元；倾斜检测装置，安装在矫平单元上并用于检测矫平条件；旋转数检测装置，用于检测电机的旋转数；光源检测装置，用于检测光源单元的发光条件；电压检测装置，用于检测电源单元的输出电压；和异常检测装置，用于检测操作异常，其中控制单元通过异常检测装置监测是否存在异常，按照预定时间间隔对来自每个检测装置的检测信号进行采样，并按照时间顺序把如此检测的信号组存储在存储单元中作为采样数据，并且当存储的采样数据超过预定量时，较早的数据被删除，并且新的采样数据被顺序覆写，并且当用于监测的至少一个检测信号指示异常时，使用指示异常的点作为基点，在预定时间段的范围中的采样数据免于成为删除的目标并被保留作为用于异常的原因的分析的数据。

另外，本发明涉及如上所述的激光测量系统，其中异常检测装置根据来自每个检测装置的检测信号监测是否存在异常。另外，本发明涉及如上所述的激光测量系统，其中异常检测装置基于来自执行与外部装置的通信的无线通信单元的信号监测是否存在异常。

另外，本发明涉及如上所述的激光测量系统，其中外部装置是光接收装置。

另外，本发明涉及如上所述的激光测量系统，其中作为基点的所述预定时间段的范围是在时间方面从基点向回的范围，并且是通过在时间方面把基点视为开始点的范围。另外，本发明涉及如上所述的激光测量系统，其中作为基点的所述预定时间段的范围是在基点前后在时间方面向回或向前的范围。

另外，本发明涉及如上所述的激光测量系统，其中控制单元具有诊断程序，并且控制单元从用于异常的原因的分析的数据识别异常的原因。

另外，本发明涉及如上所述的激光测量系统，还包括PC，其中PC具有诊断程序，并且PC从用于异常的原因的分析的数据识别异常的原因。

另外，本发明涉及如上所述的激光测量系统，其中诊断程序使异常的原因与结构部件的位置关联。另外，本发明涉及如上所述的激光测量系统，其中每个部件被设计为组件，并且与异常的原因相关的部件能够被交换。