[发明专利]用于在多个腔室中的颗粒吸引的磁系统在审

专利信息
申请号: 201180044481.0 申请日: 2011-09-05
公开(公告)号: CN103109193A 公开(公告)日: 2013-05-15
发明(设计)人: M·M·奥夫扬科 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: G01N35/00 分类号: G01N35/00;G01N33/543;B03C1/28
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 王英;刘炳胜
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要:
搜索关键词: 用于 多个腔室 中的 颗粒 吸引 系统
【权利要求书】:

1.一种样本处理设备(100、200),其具有用于在第一样本腔室(SC1)和第二样本腔室(SC2)中生成磁场(B)的器件,所述第一样本腔室(SC1)和所述第二样本腔室(SC2)在x方向上彼此相邻定位,所述设备包括:

a)第一电磁体(110、210),其具有能够设置于所述第一样本腔室(SC1)下方的、在与所述x方向基本垂直的y方向上彼此靠近的第一磁极对(111、111'、211、211');

b)第二电磁体(120、220),其具有能够设置于所述第二样本腔室(SC2)下方的、在所述y方向上彼此靠近的第二磁极对(121、121'、221、221');

c)控制单元(130),其用于单独地控制所述第一电磁体和第二电磁体。

2.一种方法,其用于在第一样本腔室(SC1)和第二样本腔室(SC2)中,通过样本处理设备(100、200)处理样本,所述第一样本腔室(SC1)和所述第二样本腔室(SC2)在x方向上彼此相邻定位,所述方法包括:

a)将具有在与所述x方向基本垂直的y方向上彼此靠近地布置的第一磁极对(111、111'、211、211')的第一电磁体(110、210)设置在所述第一样本腔室(SC1)的下方;

b)将具有在所述y方向上彼此靠近地布置的第二磁极对(121、121'、221、221')的第二电磁体(120、220)设置在所述第二样本腔室(SC2)的下方;

c)单独地控制所述第一电磁体和所述第二电磁体以在所述第一样本腔室(SC1)和/或所述第二样本腔室(SC2)中生成磁场(B)。

3.根据权利要求1所述的设备(100、200)或根据权利要求2所述的方法,

其特征在于,可更换盒(101)容纳所述第一样本腔室(SC1)和第二样本腔室(SC2)。

4.根据权利要求1所述的设备(100、200)或根据权利要求2所述的方法,

其特征在于,所述第一样本腔室(SC1)和所述第二样本腔室(SC2)物理地彼此分隔。

5.根据权利要求1所述的设备(100、200)或根据权利要求2所述的方法,

其特征在于,所述第一电磁体(110、210)和/或所述第二电磁体(120、220)包括具有马蹄形的磁芯(112、122)。

6.根据权利要求1所述的设备(100)或根据权利要求2所述的方法,

其特征在于,以在x方向上的距离D分别分隔所述第一电磁体(110)和第二电磁体(120)的所述磁极对(111、111'、121、121'),所述距离(D)大于一对所述磁极之间的距离(A),优选地,距离(D)大于大约1.2mm。

7.根据权利要求1所述的设备(200)或根据权利要求2所述的方法,

其特征在于,以在x方向上的距离D分别分隔所述第一电磁体(210)和所述第二电磁体(220)的所述磁极对(211、211'、221、221'),所述距离(D)小于一对所述磁极之间的距离(A)的一半,优选地,距离(D)小于大约0.5mm。

8.根据权利要求1所述的设备(200)或根据权利要求2所述的方法,

其特征在于,操作不同电磁体(210、220)的邻近磁极(211、221;211'、221')以使它们在预先确定的时间百分比上具有平均相反的极性。

9.根据权利要求8所述的设备(200)或方法,

其特征在于,操作不同电磁体(210、220)的邻近磁极(211、211';221、221')以使它们总是具有相反的极性。

10.根据权利要求1所述的设备(100、200)或根据权利要求2所述的方法,

其特征在于,所述设备(100、200)包括传感器模块(150、160),所述传感器模块(150、160)用于在所述样本腔室(SC1、SC2)中的至少一个中探测颗粒(1),特别是在邻近所述电磁体(110、120、210、220)的感测表面(102)处探测颗粒(1)。

11.根据权利要求10所述的设备(100、200)或方法,

其特征在于,通过光学、磁、机械、声学、热或电传感器模块(150、160)来探测所述颗粒(1)。

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