[发明专利]光电转换装置的制造方法有效
申请号: | 201180045445.6 | 申请日: | 2011-08-31 |
公开(公告)号: | CN103119727A | 公开(公告)日: | 2013-05-22 |
发明(设计)人: | 吉见雅士;市川满;宇都俊彦;山本宪治 | 申请(专利权)人: | 株式会社钟化 |
主分类号: | H01L31/04 | 分类号: | H01L31/04 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 金世煜;赵曦 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光电 转换 装置 制造 方法 | ||
1.一种结晶硅系光电转换装置的制造方法,是制造以下结晶硅系光电转换装置的方法,即,所述结晶硅系光电转换装置在一导电类型单晶硅基板的一个面上依次具有一导电类型层侧本征硅系层和一导电类型硅系层,在所述一导电类型单晶硅基板的另一个面上依次具有相反导电类型层侧本征硅系层和相反导电类型硅系层,
所述一导电类型层侧本征硅系层的形成工序、和所述相反导电类型层侧本征硅系层的形成工序中的至少一者依次具有下述工序:
在所述一导电类型单晶硅基板上形成具有1nm~10nm膜厚的第1本征硅系薄膜层的工序,
在以氢为主成分的气体气氛中进行等离子体处理的工序,
在所述第1本征硅系薄膜层上形成第2本征硅系薄膜层的工序。
2.根据权利要求1所述的结晶硅系光电转换装置的制造方法,其中,所述第1本征硅系薄膜层的膜厚与所述第2本征硅系薄膜层的膜厚的合计为16nm以下。
3.根据权利要求1或2所述的结晶硅系光电转换装置的制造方法,其中,在形成所述第1本征硅系薄膜层的工序之后,暂时停止等离子体放电,然后再开始等离子体放电而进行所述等离子体处理。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的