[发明专利]充电构件、处理盒和电子照相设备有效
申请号: | 201180046556.9 | 申请日: | 2011-09-06 |
公开(公告)号: | CN103124932A | 公开(公告)日: | 2013-05-29 |
发明(设计)人: | 友水雄也;黑田纪明;铃村典子 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | G03G15/02 | 分类号: | G03G15/02;C08G65/337 |
代理公司: | 北京魏启学律师事务所 11398 | 代理人: | 魏启学 |
地址: | 日本东京都大*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 充电 构件 处理 电子 照相 设备 | ||
技术领域
本发明涉及用于电子照相设备的充电构件,并涉及各自使用所述充电构件的处理盒和电子照相设备。
背景技术
通常将通过抵接电子照相感光构件使所述感光构件充电的充电构件形成为具有包含橡胶的弹性层,以确保所述感光构件和所述充电构件之间的辊隙宽度。此类弹性层典型地包含低分子量组分,由于长期使用,所述低分子量组分可渗出到充电构件的表面从而粘附到感光构件的表面。另外,在用粘附有低分子量组分的感光构件形成的电子照相图像中可能出现条纹状不均匀。
另外,当使用长时间在高温高湿环境下放置的电子照相设备形成电子照相图像时,特别显著地发生该现象。
为应对弹性层中的低分子量组分的此类渗出,专利文献1公开了具有其外周面涂布有有机-无机混合涂层从而可抑制低分子量组分渗出到其表面的弹性层的充电辊。
引用文献
专利文献
专利文献1:
日本专利申请特开第2001-173641号公报
发明内容
发明要解决的问题
本发明的发明人已对专利文献1中所述的设置有有机-无机混合涂层的充电辊进行了研究,结果,发现所述有机-无机混合涂层具有小的交联密度。这可能是由于侧重了所述有机-无机混合涂层的挠性。因此,发明人认识到有机-无机混合涂层的厚度必须为亚微米以上,以便可以可靠地抑制低分子量组分的渗出。此处,从充电效率的观点,充电构件的表面层厚度优选尽可能小。另外,从形成具有均匀厚度的表面层的观点,表面层的厚度优选尽可能小。
鉴于上述,本发明的目的是提供设置有能够更加可靠地抑制低分子量组分从弹性层渗出的表面层的充电构件。另外,本发明的目的是提供能够稳定地形成高品质电子照相图像的处理盒和电子照相设备。
用于解决问题的方案
根据本发明的一方面,提供充电构件,其包括:基体;弹性层和表面层,其中所述表面层包含具有Si-O-Ta键并具有由下述结构式(1)表示的结构单元和由下述结构式(2)表示的结构单元的高分子化合物。
TaO5/2 (2)
(上述结构式(1)中,R1和和R2各自独立地表示结构式(3)至(6)中的任意一种。
(结构式(3)至(6)中,R3至R7、R10至R14、R19、R20、R25和R26各自独立地表示氢、具有1至4个碳原子的烷基、羟基、羧基或氨基;R8、R9、R15至R18、R23、R24和R29至R32各自独立地表示氢或具有1至4个碳原子的烷基;R21、R22、R27和R28各自独立地表示氢、氧、具有1至4个碳原子的烷氧基或具有1至4个碳原子的烷基;n、m、l、q、s和t各自独立地表示1至8的整数;p和r各自独立地表示4至12的整数;x和y各自独立地表示0或1,符号“*”表示与结构式(1)中的硅原子的键合位置,和符号“**”表示与结构式(1)中的氧原子的键合位置。)
根据本发明另外的方面,提供处理盒,其包括上述充电构件和与所述充电构件抵接配置的电子照相感光构件,其中所述处理盒可拆卸地安装到电子照相设备的主体。
根据本发明另外的方面,提供电子照相设备,其包括:上述充电构件和配置为抵接充电构件的电子照相感光构件。
发明的效果
可获得设置有即使当其厚度小时也能够更加可靠的抑制渗出的表面层的充电构件。另外,可获得能够稳定地提供高品质电子照相图像的电子照相设备和处理盒。
附图说明
图1为根据本发明的充电构件的结构图。
图2为根据本发明的电子照相设备的结构图。
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