[发明专利]X射线摄像装置以及X射线摄像装置的X射线焦点位置控制方法有效

专利信息
申请号: 201180047240.1 申请日: 2011-09-11
公开(公告)号: CN103140172A 公开(公告)日: 2013-06-05
发明(设计)人: 昆野康隆;石川卓 申请(专利权)人: 株式会社日立医疗器械
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03;A61B6/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 王亚爱
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 射线 摄像 装置 以及 焦点 位置 控制 方法
【权利要求书】:

1.一种X射线摄像装置,其特征在于,具备:

X射线产生单元,其从焦点照射X射线,具有第1部位和第2部位,所述第1部位具有第1变化分量,由于所述X射线产生单元所产生的热而变化,所述第2部位具有与第1变化分量不同的第2变化分量,由于所述X射线产生单元所产生的热而变化;

X射线检测单元,其对所述X射线进行检测并变换为电信号;

焦点位置检测单元,其对照射了所述X射线时的焦点位置进行检测;

焦点位置变化量推定单元,其利用具有所述第1变化分量而变化的第1变化量、和具有所述第2变化分量而变化的第2变化量来对所述焦点位置相对于所述焦点的基准位置的变化量进行推定;和

校正单元,其按照将所述焦点位置变化量推定单元所推定出的所述焦点位置的变化量抵消的方式,来对所述X射线的照射区域与所述X射线检测单元之间的相对位置进行校正。

2.根据权利要求1所述的X射线摄像装置,其特征在于,

所述焦点位置变化量推定单元,利用推定函数来推定所述焦点位置的变化量,其中所述推定函数由用于计算所述第1变化量的第1项、和用于计算所述第2变化量的第2项的总和构成。

3.根据权利要求2所述的X射线摄像装置,其特征在于,

所述第1项通过利用了第1振幅项和所述第1变化分量的1个以上的衰减项来定义,所述第2项通过利用了第2振幅项和所述第2变化分量的1个以上的衰减项来定义。

4.根据权利要求3所述的X射线摄像装置,其特征在于,

所述焦点位置变化量推定单元,利用由所述焦点位置检测单元在相当于比紧挨在进行焦点位置的推定之前更靠前的X射线照射期间检测出的1个以上的焦点位置来决定所述第2振幅项。

5.根据权利要求4所述的X射线摄像装置,其特征在于,

所述焦点位置变化量推定单元,利用由所述焦点位置检测单元在相当于比紧挨在进行焦点位置的推定之前更靠前的第n次X射线照射期间的末期检测出的焦点位置、和在第(n+1)次X射线照射期间的初期检测出的焦点位置,来决定所述第2振幅项。

6.根据权利要求3所述的X射线摄像装置,其特征在于,

所述焦点位置变化量推定单元,利用所述第2变化分量和在之前的X射线照射期间的末期检测出的焦点位置来决定所述第1振幅项。

7.根据权利要求5所述的X射线摄像装置,其特征在于,

是在使所述X射线产生单元和所述X射线检测器对置的状态下,使所述X射线产生单元和所述X射线检测器在被检体的周围至少旋转移动1圈以上来检测X射线的X射线CT装置,所述X射线照射期间的初期以及末期是所述旋转移动中的1圈中的前半所包含的时间点以及后半所包含的时间点,或者是连续进行多次旋转的旋转移动中的前半所包含的时间点以及后半所包含的时间点。

8.根据权利要求6所述的X射线摄像装置,其特征在于,

是在使所述X射线产生单元和所述X射线检测器对置的状态下,使所述X射线产生单元和所述X射线检测器在被检体的周围至少旋转移动1圈以上来检测X射线的X射线CT装置,所述X射线照射期间的初期以及末期,是所述旋转移动中的1圈中的前半所包含的时间点以及后半所包含的时间点,或者是连续进行多次旋转的旋转移动中的前半所包含的时间点以及后半所包含的时间点。

9.根据权利要求3所述的X射线摄像装置,其特征在于,

所述焦点位置变化量推定单元,将所述推定函数的第1振幅项以及所述第2振幅项中的任意一方设为0,求出另一方的第1振幅项或所述第2振幅。

10.根据权利要求9所述的X射线摄像装置,其特征在于,

所述焦点位置变化量推定单元,将所述推定函数的所述第2项设为0,将由所述焦点位置检测单元在紧挨在进行焦点位置推定之前的X射线照射期间检测出的焦点位置应用于所述推定函数,来求出所述第1振幅项,或者将所述推定函数的所述第1项设为0,将由所述焦点位置检测单元在比所述紧挨在进行焦点位置推定之前更靠前的X射线照射期间检测出的焦点位置应用于所述推定函数来决定所述第2振幅项。

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