[发明专利]用于操作金属探测系统的方法以及金属探测系统

权利要求书

1.一种用于操作金属探测系统的方法，所述金属探测系统包括平衡线圈系统（2），所述平衡线圈系统（2）具有连接到发射器单元（1）的发射器线圈（21）并具有向接收器单元（3）提供输出信号（s22、s23）的第一接收器线圈和第二接收器线圈（22、23），所述发射器单元（1）提供具有可选择的发射器频率（f_TX）的发射器信号（s1），所述第一接收器线圈和第二接收器线圈（22、23）在所述金属探测系统处于平衡中的情况下彼此补偿，且在产品存在于所述平衡线圈系统（2）中的情况下提供被发送到信号处理单元的输出信号，所述信号处理单元至少抑制产品信号的分量并传送由包含在所述产品中的金属污染物（MC1、MC2、……）引起的信号分量，所述方法包括下列步骤：

a）针对至少两个发射器频率（f_TX1、f_TX2）中的每个并且针对至少第一金属污染物（MC1、……）的至少两个颗粒尺寸，来确定所述第一金属污染物（MC1、……）的相关信号的相位和振幅；

b）针对所述至少两个发射器频率（f_TX1、f_TX2）确定特定产品（P）的相关信号的相位和振幅；

c）针对所述至少两个发射器频率（f_TX1、f_TX2），比较针对所述至少第一金属污染物（MC1、……）建立的信息与针对所述产品（P）建立的信息；

d）确定优选的发射器频率（f_TX1或f_TX2），利用所述优选的发射器频率，所述至少第一金属污染物的最小尺寸的颗粒的信号分量在相位和振幅上与所述产品信号的相位和振幅最不相同；以及

e）选择所述优选的发射器频率（f_TX1或f_TX2）来用于测量所述特定产品（P）。

2.根据权利要求1所述的方法，其中：

a）至少针对所述第一金属污染物（MC1、……）建立至少第一阵列的第一曲线和第二曲线，每个曲线表示针对所述可选择的发射器频率（f_TX1；f_TX2）中的一个的针对所述第一金属污染物（MC1、……）的逐渐增大的颗粒尺寸的信号的相位和振幅；以及

b）针对每个发射器频率（f_TX1；f_TX2），比较至少针对所述第一金属污染物（MC1、……）建立的信息与针对所述产品（P）建立的信息，以便确定所述优选的发射器频率（f_TX1或f_TX2），对应所述优选的发射器频率，最小尺寸的污染物颗粒的信号分量在相位和振幅上与所述产品信号的相位和振幅最不相同。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，至少针对所述第一金属污染物和第二金属污染物（MC1、MC2、……）来建立信息，所述信息优选是所述第一阵列的曲线，且其中，将针对同一发射器频率（f_TX1或f_TX2）针对不同的金属污染物类型（MC1、MC2、……）建立的曲线组合成第二阵列。

4.根据权利要求1、2或3所述的方法，其中，针对每种金属污染物（MC1；MC2；……），确定所述优选的发射器频率（f_TX1、f_TX2；f_TX3；f_TX4），使得所选择的发射器频率（f_TX）对于所述金属污染物类型（MC1；MC2；……）中的一种或多种是最佳的。

5.根据权利要求3或4所述的方法，其中，针对每种金属污染物（MC1；MC2；……）来确定最小颗粒尺寸的值，且其中，将这些值发送到选择一个或多个最佳发射器频率（f_TX）的计算机程序的模块或发送到提供优选关于工作台的状态信息的计算机程序的输出模块。

6.根据权利要求5所述的方法，其中，为了探测不同的金属污染物类型（MC1；MC2；……），在产品（P）的扫描期间优选地以可选择的顺序交替地应用所选择的发射器频率（f_TX），并在接收器级中相应地对所选择的发射器频率（f_TX）进行滤波，或同时应用所选择的发射器频率（f_TX），并在接收器级中相应地对所选择的发射器频率（f_TX）进行滤波。