[发明专利]具有静电放电(ESD)保护的测试针阵列有效
申请号: | 201180049144.0 | 申请日: | 2011-10-21 |
公开(公告)号: | CN103238076A | 公开(公告)日: | 2013-08-07 |
发明(设计)人: | 高国兴 | 申请(专利权)人: | 大科防静电技术咨询(深圳)有限公司 |
主分类号: | G01R1/067 | 分类号: | G01R1/067 |
代理公司: | 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 | 代理人: | 邹秋菊 |
地址: | 518031 广东省深圳市福*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 静电 放电 esd 保护 测试 阵列 | ||
1.一种具有静电放电(ESD)保护的测试针阵列,其特征在于,包括:
管筒(11),所述管筒(11)的每一端具有狭窄直径的边(12a、12b),其中所述管筒(11)在其大致中部具有将所述管筒(11)分成第一部分(11a)和第二部分(11b)的压褶(14);
包含在所述第一部分(11a)内的第一弹性件(15);
包含在所述第二部分(11b)内的第二弹性件(18);
导电插针(13),所述导电插针(13)插入到所述管筒(11)的第一部分(11a)且具有顶端(13a)和放大基端(13b),所述放大基端(13b)朝着所述第一部分(11a)的内边(12a)且所述顶端(13a)通过所述第一弹性件(15)从所述管筒(11)中凸出;
导电插入部(17),所述导电插入部(17)插入所述管筒(11)的第二部分(11b)且具有延长体(17a)和放大基端(17c),所述延长体(17a)具有顶端(17b),所述放大基端(17c)朝着所述压褶(14)的一个表面偏置,所述延长体(17a)通过所述第一弹力件(15)和沿着所述导电插针(13)的全长提供的通道(16),且所述延长体(17a)的顶端(17b)在所述导电插针(13)轻微凸起;以及
静电耗散插座(19),所述静电耗散插座(19)具有外向的尖头电极(19a)和内向的腔部,其中所述腔部填充有静电耗散材料(19b)且连接到所述导电插入部(17)的顶端(17b)以在所述静电耗散插座(19)和所述导电插针(13)间形成缝隙(20)从而当所述第一和第二弹性件(15、18)未受力时,所述缝隙(20)闭合之前首先使得静电电荷流经所述静电耗散材料(19b),从而在所述静电耗散插座(19)接触将要检测的设备的测试点之前减慢静电电荷转移从而最小化微火花的生成。
2.根据权利要求1所述的测试针阵列,其特征在于,所述第一弹性件(15)具有比第二弹力件(18)更强的张力。
3.根据权利要求2所述的测试针阵列,其特征在于,所述第一弹性件(15)和所述第二弹力件(18)为微弹簧。
4.根据权利要求3所述的测试针阵列,其特征在于,所述第一弹性件(15)放置在所述管筒(11)的所述第一部分(11a),所述第一弹性件(15)的一端停靠在所述压褶(14)的表面上,且另一端停靠在所述导电插针(13)的所述放大基端(13b)。
5.根据权利要求3所述的测试针阵列,其特征在于,所述第二弹性件(18)放置在所述管筒(11)的所述第二部分(11b),所述第二弹性件(18)的一端停靠在所述第二部分(11b)的内边(12b),且另一端停靠在所述导电插入部(17)的放大基端(17c)。
6.根据权利要求1所述的测试针阵列,其特征在于,所述管筒(11)进一步包括附加压褶(14’),所述附加压褶(14’)将所述管筒(11)间隔成具有附加第三部分(11c)用于容置相同组的所述第一和第二弹性件(15、18)、所述导电插入部(17)和所述静电耗散插座(19)以形成对称插针结构。
7.根据权利要求1所述的测试针阵列,其特征在于,所述静电耗散插座(19)连接到非盘绕件(51),所述非盘绕件(51)包括插入通过所述导电插针(13)的所述通道(16)的主体(51a)以及穿过在所述放大基端(13b)设置的另一通道(53)的弯曲部(51b)从而在所述静电耗散插座(19)和所述导电插针(13)之间留下缝隙。
8.一种具有静电放电(ESD)保护的测试针阵列,其特征在于,包括:
管筒(11),所述管筒(11)的每一端具有狭窄直径的边(12a、12b),
在所述管筒(11)中可滑动装配的导电插针(13);
与静电耗散件(31)固定的插针顶端头(30),所述插针顶端头(30)电连接到弹性件(32)的一端并形成一体式连接部,通过在所述管筒(11)的所述边上提供的孔(33)插入所述弹性件(32)的自由端,将所述连接部连接到所述导电插针(13),使得所述弹性件(32)环绕所述导电插针(13)并在所述插针顶端头(30)和所述导电插针(13)之间留下缝隙以在所述缝隙(20)闭合之前首先使得静电电荷流经所述静电耗散件(31),从而在所述插针顶端头(30)接触将要检测的设备的测试点之前减慢静电电荷转移从而最小化微火花的生成。
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