[发明专利]用于光学相干断层扫描的具有用于控制探测器上的分散光的对准的可调偏转器的光谱仪有效
申请号: | 201180049294.1 | 申请日: | 2011-10-13 |
公开(公告)号: | CN103250035A | 公开(公告)日: | 2013-08-14 |
发明(设计)人: | F·拉克西 | 申请(专利权)人: | 爱尔康手术激光股份有限公司 |
主分类号: | G01J3/02 | 分类号: | G01J3/02;G02B26/08;G01B9/02;G01J3/453 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 袁玥 |
地址: | 美国加*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 光学 相干 断层 扫描 具有 控制 探测器 散光 对准 可调 偏转 光谱仪 | ||
1.一种光谱仪,包括:
光谱分散光学元件,配置成光谱分散接收到的光;
杠杆式光学可调偏转器,可调地偏转光谱分散的光;及
探测器阵列,接收光谱分散的且可调地偏转的光。
2.如权利要求1所述的光谱仪,其中:
所述接收到的光包括从返回的图像光束与参考光束组合的干涉光束。
3.如权利要求1所述的光谱仪,所述光谱分散光学元件包括以下至少一个:
棱镜、光栅、具有波长相关折射率的光学元件、具有波长相关透射性质的光学元件及具有波长相关偏转性质的光学元件。
4.如权利要求1所述的光谱仪,所述探测器阵列包括以下至少一个:
线性传感器阵列、二维传感器阵列和探测器相机。
5.如权利要求1所述的光谱仪,所述杠杆式光学可调偏转器包括:
具有可调透射性质和可调反射性质中的至少一个的光学元件,其中
所述可调偏转器能够通过被光学杠杆作用成小的光学调整的机械调整来调整。
6.如权利要求5所述的光谱仪,其中:
所述机械调整的角度与所述光学调整的角度之比超过10。
7.如权利要求6所述的光谱仪,其中:
所述机械调整的角度与所述光学调整的角度之比超过100。
8.如权利要求1所述的光谱仪,其中:
所述机械调整的角度与所述光学调整的角度之比大于5且小于100。
9.如权利要求1所述的光谱仪,所述可调偏转器包括:
至少一个可旋转的楔形光学板。
10.如权利要求1所述的光谱仪,其中:
所述光谱仪是成像光谱仪,其包括
准直器,把接收到的光转换成平行光;及
聚焦透镜,把光谱分散的光聚焦并成像到所述探测器阵列上。
11.如权利要求1所述的光谱仪,其中:
与所述偏转器的偏转-调整范围关联的第一探测器-光束-位置范围超过与所述光谱仪的部件的累积位置-容限范围关联的第二探测器-光束-位置范围。
12.如权利要求1所述的光谱仪,其中:
与所述偏转器的偏转-调整范围关联的第一探测器-光束-位置范围超过所述光谱仪的工作探测器-光束-位置范围。
13.如权利要求1所述的光谱仪,其中:
由所述杠杆式光学可调偏转器造成的工作光束失准小于所述探测器的失准容限。
14.如权利要求1所述的光谱仪,其中:
所述可调偏转器被配置成补偿光谱分散的光的横向失准,而不引入比所述探测器的高宽比大的角度失准。
15.如权利要求1所述的光谱仪,其中:
所述光谱仪被配置成允许通过利用已知波长的光重新校准其传感器来对纵向失准进行补偿。
16.一种光谱域光学相干断层扫描(SD-OCT)设备,包括:
光谱分解器,配置成
接收干涉光,及
通过横向分离所述干涉光的光谱成分产生一片干涉光;
传感器阵列,通过不同的传感器探测这片干涉光的不同光谱成分;及
杠杆式可调对准控制器,控制这片光与所述传感器阵列的对准。
17.如权利要求16所述的SD-OCT设备,所述对准控制器包括:
可旋转的楔形棱镜。
18.一种光谱仪,包括:
光谱分散器,横向分散图像光的光谱成分;
传感器阵列,感测图像光的光谱成分;及
光学杠杆式对准控制器,能够补偿由所述光谱仪的元件的位置变化造成的累积光束位置失准。
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