[发明专利]微分相位对比成像

权利要求书

1.一种用于进行X射线微分相位对比成像的衍射光栅（14，15），包括：

-第一子区域（26）的至少一个部分（24）；以及

-第二子区域（30）的至少一个部分（28）；

其中，所述第一子区域包括具有多个以第一光栅间距P_G1（38）周期性布置的条（34）和间隙（36）的光栅结构（54）；其中，所述条被布置成使得它们改变X射线辐射的相位和/或幅度，并且其中，所述间隙是能透过X射线的；

其中，所述第二子区域是能透过X射线的，并且其中，所述第二子区域的所述至少一个部分在所述光栅中提供能透过X射线的孔径（40）；

其中，沿至少一个方向（42）以交替方式布置所述第一子区域和第二子区域的各部分。

2.根据权利要求1所述的衍射光栅，其中，相邻地布置所述第一子区域和/或第二子区域的若干部分作为第一子集（64）和/或第二子集（66）；并且其中，在所述衍射光栅的区域上沿至少一个方向以第一子集重复间距P_SR1和/或第二子集重复间距P_SR2布置所述第一子集和/或第二子集。

3.根据权利要求1或2所述的衍射光栅，其中，在所述衍射光栅的区域上以棋盘格图案（50）布置所述第一子区域和第二子区域的各部分。

4.根据前述权利要求之一所述的衍射光栅，

其中，在包括第一子区域的各部分的至少一条线（78）的至少一个线性光栅组（76）中线性地布置所述第一子区域的各部分；并且

其中，在包括第二子区域的各部分的至少一条线（82）的至少一个线性孔径组（80）中线性地布置所述第二子区域的各部分；

其中，提供至少两个线性光栅组（76）和至少两个线性孔径组（80）；并且

其中，以第一线距P_L1（84）以交替方式布置所述的线性光栅组和所述的线性孔径组。

5.一种用于产生对象的相位对比图像的X射线系统的探测器装置（10），包括：

-第一衍射光栅（520）；

-第二衍射光栅（522）；以及

-具有传感器的探测器（12；514）；

其中，所述传感器包括第一子组像素（18）的至少一个传感器像素（16）和第二子组像素（22）的至少一个传感器像素（20）；

其中，所述第一衍射光栅是相位光栅（15）；

其中，所述第二衍射光栅是分析器光栅（14）；

其中，所述分析器光栅和/或所述相位光栅适于相对于所述分析器光栅的周期横向步进；

其中，提供所述相位光栅和所述分析器光栅作为根据前述权利要求之一所述的用于X射线微分相位对比成像的衍射光栅；

其中，所述第一衍射光栅和第二衍射光栅均适于相对于所述传感器从第一位置（P1）以第一平移间距P_T1（44）平移到至少第二位置（P2）；

其中，为了沿所述至少一个方向以所述交替方式布置所述第一子区域和第二子区域的各部分而调整所述的平移间距P_T1；并且

其中，在所述第一位置和第二位置，在所述第一子区域和第二子区域的各部分后方布置所述传感器的不同部分。

6.根据权利要求5所述的探测器装置，其中，所述第一衍射光栅和/或第二衍射光栅均适于相对于衍射光栅结构的一个周期以所述第一光栅间距P_G1与所述第一衍射光栅和/或第二衍射光栅的光栅结构成锐角α（109）进行相位步进。

7.根据权利要求5或6所述的探测器装置，其中，所述像素的尺寸与所述衍射光栅的所述第一子区域和/或第二子区域的各部分的尺寸不同。